講演名 2010-11-29
CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価(電源雑音・伝送線路,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
吉川 薫平, 松本 大, 佐々木 悠太, 永田 真,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 近年のVLSIの大規模化・高集積化・低動作電圧化によりチップ内部の電流密度上昇や雑音マージンの低下がおこり,電源雑音が顕在化している.製造するLSIの動作保証や性能保証のため,設計段階での電源雑音対策が求められている.本稿ではプロセッサ搭載チップを対象とした電源雑音の周波数成分評価について報告する.回路動作時に発生する電源雑音をオンチップモニタ回路を用いて時間領域で取得し,フーリエ変換を行うことで周波数成分評価を行った.さらに,磁界プローブを用いてプリント基板上での電源雑音測定を行い,チップから外部漏洩する雑音の周波数成分評価を行った.また,容量充電モデルを用いた電源雑音解析を行い,比較評価することで解析モデルが設計段階において,チップ内部における電源電圧変動およびプリント基板上に漏洩する電源雑音把握に有効であることを示した.
抄録(英) Recent trends of electric devices are higher performance and/or lower power consumption. To achieve these designs, LSI chips that mounted on electric devices become larger-size, high-integrated and lower supply voltage. As a results, an increasing density of current inside LSI and a degradation of noise margin cause power-supply noise induced problems such as Power Integrity (PI) and Signal Integrity (SI). This paper proposes a evaluation of frequency components of power noise in processor. On-chip power noise and On-board power noise are measured, and frequency component of these noise are evaluated. Charging capacitance model are also evaluated and confirmed the accuracy of the model.
キーワード(和) 電源雑音 / 雑音解析 / 磁界グローブ / 電磁環境両立性 / パワーインテグリティ
キーワード(英) power nosie / noise simulation / Magnetic Probe / EMC / Power Integrity
資料番号 CPM2010-124,ICD2010-83
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2010/11/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価(電源雑音・伝送線路,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Evaluation of frequency components of power noise in CMOS digital LSI
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電源雑音 / power nosie
キーワード(2)(和/英) 雑音解析 / noise simulation
キーワード(3)(和/英) 磁界グローブ / Magnetic Probe
キーワード(4)(和/英) 電磁環境両立性 / EMC
キーワード(5)(和/英) パワーインテグリティ / Power Integrity
第 1 著者 氏名(和/英) 吉川 薫平 / Kumpei YOSHIKAWA
第 1 著者 所属(和/英) 神戸大学大学院システム情報学研究科
Graduate School of System Informatics, Kobe University
第 2 著者 氏名(和/英) 松本 大 / Hiroshi MATSUMOTO
第 2 著者 所属(和/英) 神戸大学大学院システム情報学研究科
Graduate School of System Informatics, Kobe University
第 3 著者 氏名(和/英) 佐々木 悠太 / Yuta SASAKI
第 3 著者 所属(和/英) 神戸大学情報知能工学科
Department of Computer Science and Systems Engineering, Kobe University
第 4 著者 氏名(和/英) 永田 真 / Makoto NAGATA
第 4 著者 所属(和/英) 神戸大学大学院システム情報学研究科:戦略的創造研究推進事業(JST, CREST)
Graduate School of System Informatics, Kobe University:JST, CREST
発表年月日 2010-11-29
資料番号 CPM2010-124,ICD2010-83
巻番号(vol) vol.110
号番号(no) 315
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日