講演名 2010/11/23
シフト事後処理を用いたPUF基盤認証システムの精度評価(デザインガイア2010 : VLSI設計の新しい大地)
姜 玄浩, 堀 洋平, 片下 敏宏, 佐藤 証,
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抄録(和) PUF(Physical Unclonable Function)は,デバイスの物理的な特徴を抽出しデバイス固有の値を出力する関数で,ICカード認証等への応用が期待されている.しかし,PUFは認証精度に重要なランダム性が足りないという問題があり,PUFの出力結果はそのまま鍵として使用することが困難である.本論文では,PUFの出力データに簡単なシフト処理を行うことで,よりランダム性が高く,なおかつデバイスの信頼度を保ったまま認証精度を向上させる手法について検討する.
抄録(英) A physical unclonable function (PUF) is a physical system with a device manufacturing variations and could be useful for authentication of integrated circuits. However, it is claimed that the amount of randomness in the PUF output is limited. Therefore, the response of the PUF cannot be used directly as a key. In this paper we discuss a making method of the PUF output with much more randomness while maintaining the reliability. In order to do this, a simple shift post-processing will apply to the PUF output. The experimental results show that the authentication system using shifted response data have improved performance compared to non-shifted data.
キーワード(和) physical unclonable function(PUF) / 認証 / シフト事後処理
キーワード(英) physical unclonable function(PUF) / authentication / shift post-processing
資料番号 RECONF-2010-49
発行日

研究会情報
研究会 RECONF
開催期間 2010/11/23(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Reconfigurable Systems (RECONF)
本文の言語 ENG
タイトル(和) シフト事後処理を用いたPUF基盤認証システムの精度評価(デザインガイア2010 : VLSI設計の新しい大地)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Performance Evaluation for PUF-based Authentication Systems with Shift Post-processing
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) physical unclonable function(PUF) / physical unclonable function(PUF)
キーワード(2)(和/英) 認証 / authentication
キーワード(3)(和/英) シフト事後処理 / shift post-processing
第 1 著者 氏名(和/英) 姜 玄浩 / Hyunho KANG
第 1 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所:情報セキュリティ研究センター
Research Center for Information Security(RCIS):Advanced Industrial Science and Technology(AIST)
第 2 著者 氏名(和/英) 堀 洋平 / Yohei HORI
第 2 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所:情報セキュリティ研究センター
Research Center for Information Security(RCIS):Advanced Industrial Science and Technology(AIST)
第 3 著者 氏名(和/英) 片下 敏宏 / Toshihiro KATASHITA
第 3 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所:情報セキュリティ研究センター
Research Center for Information Security(RCIS):Advanced Industrial Science and Technology(AIST)
第 4 著者 氏名(和/英) 佐藤 証 / Akashi SATOH
第 4 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所:情報セキュリティ研究センター
Research Center for Information Security(RCIS):Advanced Industrial Science and Technology(AIST)
発表年月日 2010/11/23
資料番号 RECONF-2010-49
巻番号(vol) vol.110
号番号(no) 319
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日