| 講演名 | 2010-11-29 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-) 岩本 由香, 吉川 祐樹, 市原 英行, 井上 智生, |
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| 抄録(和) | 近年,LSIテスト手法の1つとして組込み自己テストが利用されている.組込み自己テストでは,LSI内部にテストベクトル系列を生成するためのテストパタン生成器を付加する必要がある.本論文では,マルチメディアコアを持つシステムLSIにおいて,LSIに搭載されている画像伸張回路をテストパタン生成器として利用する手法を提案する.これにより,LSI内部に組込み自己テストのために別途テストパタン生成器を付加する必要がなくなり,面積オーバーヘッドの削減が期待できる.さらに,JPEG画像用のテストパタン生成器を利用したテストパタン生成器のための,初期値(シード)生成法を提案する.提案したシード生成アルゴリズムは,高い故障検出率を持つテストベクトル系列に展開可能でデータ量の小さいシード集合を生成可能である.実験結果から,提案法は従来法に比べて,同程度の故障検出率を少ないシードデータ量と短いテストベクトル系列長で達成できることがわかる. |
| 抄録(英) | Built-in Self Test (BIST) is one of effective methods for testing today's verylarge-scale SoCs. In BIST scheme, a test pattern generator (TPG), which generates test vector sequences fed to cores-under-test, must be embedded into SoCs. In this paper, we target the testing of SoCs with multimedia cores and introduce a scheme to utilize an image decoder, e.g., JPEG decoder, included in the multimedia cores as an embedded TPG. This scheme does not require additional embedded TPGs, so that it can reduce the hardware overhead of BIST methods. Moreover, we propose a method for generating seeds (or initial values of TPGs) in the case where a JPEG decoder is utilized as a TPG. The proposed seed generation algorithm can generate effective seeds, which are small in data size and can be decompressed to test sequences with high fault coverage. Experimental results show that, compared with a previous BIST method, the proposed method can achieve comparable fault coverage with smaller seeds and shorter decompressed test sequences. |
| キーワード(和) | 組込み自己テスト / マルチメディアコア / 画像伸張回路 / JPEG |
| キーワード(英) | Built-in self-test / multimedia cores / image decoder / and JPEG |
| 資料番号 | VLD2010-63,DC2010-30 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2010/11/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Experimental Evaluation of Built-in Test Pattern Generation with Image |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-in self-test |
| キーワード(2)（和/英） | マルチメディアコア / multimedia cores |
| キーワード(3)（和/英） | 画像伸張回路 / image decoder |
| キーワード(4)（和/英） | JPEG / and JPEG |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 岩本 由香 / Yuka IWAMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science, Hiroshima City University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉川 祐樹 / Yuki YOSHIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science, Hiroshima City University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 市原 英行 / Hideyuki ICHIHARA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science, Hiroshima City University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 井上 智生 / Tomoo INOUE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Science, Hiroshima City University |
| 発表年月日 | 2010-11-29 |
| 資料番号 | VLD2010-63,DC2010-30 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 317 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |