講演名 2010-11-19
確率過程モデルに基づく劣化データの信頼性解析(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)
貝瀬 徹,
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抄録(和) 劣化データの信頼性解析において,確率過程モデルを想定した手法が数多く提案されている.例えば,ブラウン運動やガンマ過程といったモデルが用いられ,さらに加速モデルの想定もされている.しかし,統計学の視点で捉えると,これらのモデルに関するパラメータ推定法にはいくつかの手法の適用が可能であり,具体的には最尤法,一般化モーメント法,そしてべイズ法が挙げられる.また,モデル選択として情報量規準が考えられるが,異なる推定方法では統一的な評価に困難さが生じる.本研究では,レヴィー過程で捉えた確率過程モデルと複数のパラメータ推定法を扱い,モデル選択では情報量規準EICを適用する.
抄録(英) Methodologies of reliability analysis using stochastic process models for degradation data are proposed in many references. The Bownian motion and the gamma process are used for the analysis. It is possible to use estimation methods for the stochastic models. For example, the methods to estimate parameters are the maximum likelihood, the generalized moment, and the Bayesian methodologies. The information criteria are useful for the model selection. However it is difficult to make application of unified comparisons to the estimation methodologies. In this paper, we handle stochastic process models and estimation methods based on a view point of the Levy process. It is shown that the application of the information criterion EIC make the effects for degradation process analysis, becanse EIC is possible to treat uniformity the selections of the models and the estimations.
キーワード(和) 確率過程 / 最尤法 / 一般化モーメント法 / べイズ / EIC
キーワード(英) Stochastic process / Maximum likelihood / Generalized moment method / Bayes / EIC
資料番号 R2010-36
発行日

研究会情報
研究会 R
開催期間 2010/11/12(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Reliability(R)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 確率過程モデルに基づく劣化データの信頼性解析(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Inference of Reliability for Degradation Data Based on Stochastic Process Models
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 確率過程 / Stochastic process
キーワード(2)(和/英) 最尤法 / Maximum likelihood
キーワード(3)(和/英) 一般化モーメント法 / Generalized moment method
キーワード(4)(和/英) べイズ / Bayes
キーワード(5)(和/英) EIC / EIC
第 1 著者 氏名(和/英) 貝瀬 徹 / Toru KAISE
第 1 著者 所属(和/英) 兵庫県立大学大学院経営研究科
Graduate School of Business, University of Hyogo
発表年月日 2010-11-19
資料番号 R2010-36
巻番号(vol) vol.110
号番号(no) 298
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日