| 講演名 | 2010-10-22 変調散乱素子を用いた電界計測における散乱波振幅の校正法(マイクロ波,EMC,一般) 黒澤 孝裕, 駒木根 隆士, |
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| 抄録(和) | 変調散乱素子を用いた電界強度測定において,周囲環境からの反射等の影響によって変動する変調散乱波の振幅を校正する手法について検討した.誘電体円柱を機械回転させた変調散乱素子を用い,対数周期アンテナを模擬供試機器として散乱波振幅の校正値を取得し,また,この供試機器が発生する電界強度を推定した.測定された校正値には,床面反射や供試機器自体からの反射の影響が観測された.この校正値に基づいて電界測定時に観測される散乱波振幅を補正することで,周囲環境による散乱波の反射や回折等,多重伝搬による干渉の影響を低減でき,より高精度な電界測定が可能となった. |
| 抄録(英) | A calibration method on electric field measurement system with modulated scattering technique is developed. By using rotating di-electric cylinder as modulated scatterer and log-periodic dipole array antenna as an equipment under test (EUT), calibration coefficient was measured. The dependence of calibration coefficient on scatterer position shows the multipath interference of scattered waves such as floor reflection and the reflection of EUT. Electric field of the EUT can be measured by using modulated scattering technique and this calibration method with good accuracy. |
| キーワード(和) | 電界計測 / 変調散乱 / 校正 / 電磁環境両立性 / 電波暗室 |
| キーワード(英) | Electric field measurement / Modulated scatterer / Calibration / EMC / Anechoic chamber |
| 資料番号 | EMCJ2010-65,MW2010-100 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
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| 開催期間 | 2010/10/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Microwaves (MW) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 変調散乱素子を用いた電界計測における散乱波振幅の校正法(マイクロ波,EMC,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Amplitude Calibration on Electric Field Measurement with Modulated Scatterer |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電界計測 / Electric field measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 変調散乱 / Modulated scatterer |
| キーワード(3)（和/英） | 校正 / Calibration |
| キーワード(4)（和/英） | 電磁環境両立性 / EMC |
| キーワード(5)（和/英） | 電波暗室 / Anechoic chamber |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 黒澤 孝裕 / Takahiro KUROSAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所 AKITA Prefectural R & D Center |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 駒木根 隆士 / Takashi KOMAKINE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所 AKITA Prefectural R & D Center |
| 発表年月日 | 2010-10-22 |
| 資料番号 | EMCJ2010-65,MW2010-100 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 237 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |