| 講演名 | 2010-10-15 反射型結像鏡を用いた顕微カー効果磁気計測装置の開発 近藤 祐治, 山川 清志, 中村 勇希, 石尾 俊二, 有明 順, |
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| 抄録(和) | ビットパターン媒体などの硬磁性ナノ構造体の磁気計測を目的として,強磁場中においても偏光軸に影響が少ない反射型結像鏡を採用した顕微カー効果磁気計測装置の開発を行った.反射型結像鏡には極めて単純な球面鏡のみで構成されたSchwarzschild結像鏡を用いた.この結像鏡の結像式から3次の球面収差を打ち消す条件を用いて,倍率200倍の光学パラメータの解析設計を行った.光線追跡法により結像評価を行った結果,収差がほとんどなく,直径200μmの光源に対して,ほぼ倍率通りの1.02μmのマイクロビームが得られることがわかった.さらに実際にレーザ光源,光学素子,電磁石を組上げ,75μmハーフピッチのCo_<80>Pt_<20>メッシュを用いたナイフエッジ法によりビームサイズ評価を行った.その結果,200μmのピンホールを用いて4.7μmのマイクロビームが得られた.また,上記のCo_<80>Pt_<20>メッシュを用いて直交偏光子法によりカー効果測定を行った結果,市販の装置で得られる磁化曲線とほとんど同じ結果が得られた. |
| 抄録(英) | A microscopic Kerr effect magnetometry using reflection objective was developed in order to characterize the magnetic properties of hard magnetic nano-structures such as bit patterned media. Schwarzschild type objective consisted of two spherical mirror was applied as the reflection objective. Optics with magnification of 200 was designed analytically to satisfy the conditions at which the third order spherical aberration was cancelled. For the optics parameters, the simulated spot was derived to 1.02μm in diameter for a 200μm-diameter source by a ray tracing. The microscopic Kerr effect magnetometry was fabricated based on optics design parameters, and actual spot diameter was estimated to be 4.7μm by knife-edge scan using C0_<80>Pt_<20> mesh with half pitch of 75μm. Furthermore, Kerr effect magnetization loop measured by the developed magnetometer on the mesh agreed with one measured by a commercial equipment. |
| キーワード(和) | 顕微カー効果磁気計測 / 反射型結像鏡 / Schwarzschild結像鏡 / 磁性ドット |
| キーワード(英) | Microscopic Kerr Effect Magnetometry / Reflection Objective / Schwarzschild Objective / Magnetic Dot |
| 資料番号 | MR2010-32 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MR |
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| 開催期間 | 2010/10/7(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Magnetic Recording (MR) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 反射型結像鏡を用いた顕微カー効果磁気計測装置の開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of microscopic Kerr effect magnetometry using reflection objective |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 顕微カー効果磁気計測 / Microscopic Kerr Effect Magnetometry |
| キーワード(2)（和/英） | 反射型結像鏡 / Reflection Objective |
| キーワード(3)（和/英） | Schwarzschild結像鏡 / Schwarzschild Objective |
| キーワード(4)（和/英） | 磁性ドット / Magnetic Dot |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 近藤 祐治 / Yuji KONDO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所 Akita Research and Development Center |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山川 清志 / Kiyoshi YAMAKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所 Akita Research and Development Center |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中村 勇希 / Yuki NAKAMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 秋田大学工学資源学部 Akita University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 石尾 俊二 / Shunji ISHIO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 秋田大学工学資源学部 Akita University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 有明 順 / Jun ARIAKE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所 Akita Research and Development Center |
| 発表年月日 | 2010-10-15 |
| 資料番号 | MR2010-32 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 225 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |