講演名 2010-10-19
Josephson-CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイムのアドレス依存性の測定(超伝導エレクトロニクス基盤技術及び一般)
矢口 謙太, 桑原 啓太, 陳 賢珠, 山梨 裕希, 吉川 信行,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) SFQ回路のハイエンド情報機器への応用を目的として、SFQ回路の高速性とCMOS回路の高集積性を融合したJosephson-CMOSハイブリッドメモリが検討されている。本研究では、任意のアドレスの選択が可能な64kbitハイブリッドメモリを試作し、SFQ遅延時間測定回路を用いてメモリのアクセスタイムのアドレス依存性を測定した。開発したハイブリッドメモリシステムでは、SFQ回路を用いたビットシリアルのアドレス入力ポートを設けることで任意のアドレスへのアクセスを可能とした。試作には、Rohm 0.18μmプロセスならびにISTEC 2.5kA/cm^2 Nbプロセスを用いた。実験により7通りのメモリアドレスに対してアクセスタイムを測定した。測定されたアクセスタイムは1.43-1.51nsとなり、シミュレーションと近い結果を得た。
抄録(英) We have been developing a Josephson-CMOS hybrid memory, which enables sub-nanosecond access time. In our previous study, we obtained the access time of about 1.38ns for particular memory address in a 64kbit hybrid memory system. In this study, we implemented a hybrid memory with a bit-serial input port for the memory address using SFQ circuits in order to measure the access time of arbitrary memory address. We designed a 64kbit hybrid memory system using a 0.18μm CMOS process and ISTEC 2.5kA/cm^2 Nb process. The access time was measured directly by an SFQ time-to-digital converter. We measured the access time of the hybrid memory for seven different addresses. Measured access times were ranging from 1.43 to 1.47ns depending on the position in the memory cell array. The results agree well with the simulation results taking account the wire delay of the memory system.
キーワード(和) 超伝導集積回路 / SFQ回路 / CMOS回路 / メモリ / アクセス時間
キーワード(英) superconducting integrated circuits / SFQ circuits / CMOS circuits / memory / access time
資料番号 SCE2010-35
発行日

研究会情報
研究会 SCE
開催期間 2010/10/12(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Superconductive Electronics (SCE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) Josephson-CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイムのアドレス依存性の測定(超伝導エレクトロニクス基盤技術及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Measurement of Memory Address Dependence of Access Time of Josephson-CMOS Hybrid Memories
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 超伝導集積回路 / superconducting integrated circuits
キーワード(2)(和/英) SFQ回路 / SFQ circuits
キーワード(3)(和/英) CMOS回路 / CMOS circuits
キーワード(4)(和/英) メモリ / memory
キーワード(5)(和/英) アクセス時間 / access time
第 1 著者 氏名(和/英) 矢口 謙太 / Kenta YAGUCHI
第 1 著者 所属(和/英) 横浜国立大学工学部
Faculty of Engineering, Yokohama National University
第 2 著者 氏名(和/英) 桑原 啓太 / Keita KUWABARA
第 2 著者 所属(和/英) 横浜国立大学工学部
Faculty of Engineering, Yokohama National University
第 3 著者 氏名(和/英) 陳 賢珠 / Hyunjoo JIN
第 3 著者 所属(和/英) 横浜国立大学工学部
Faculty of Engineering, Yokohama National University
第 4 著者 氏名(和/英) 山梨 裕希 / Yuki YAMANASHI
第 4 著者 所属(和/英) 横浜国立大学工学部
Faculty of Engineering, Yokohama National University
第 5 著者 氏名(和/英) 吉川 信行 / Nobuyuki YOSHIKAWA
第 5 著者 所属(和/英) 横浜国立大学工学部
Faculty of Engineering, Yokohama National University
発表年月日 2010-10-19
資料番号 SCE2010-35
巻番号(vol) vol.110
号番号(no) 235
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日