| 講演名 | 2010-10-19 Nb-AlO_x-Nbジョセフソン接合における臨界電流値バラツキの解析(超伝導エレクトロニクス基盤技術及び一般) 日野出 憲治, 佐藤 哲朗, 永沢 秀一, 日高 睦夫, |
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| 抄録(和) | Nb-AlO_x-Nbジョセフソン接合(JJ)の超電導臨界電流値(I_c)バラツキを検討した。1000個の接合を直列接続したテスト回路を用いた低温でのI-V特性、1つの接合の4端子回路を用いた室温での接合抵抗を測定した。室温接合抵抗値は、リソグラフィーとエッチング等の製造工程起因のJJ面積バラツキから通常予想される依存性を示した。低温のI-Vカーブから算出したI_c値のバラツキは、JJ面積バラツキに起因する成分に、測定時のノイズに起因する成分が合成されたものと考えられる。相対バラツキ(ΔI_c/I_c)でみると、JJ面積バラツキに起因する成分は、臨界電流密度(J_c)には依存せず、JJ面積の平方根(正方形JJなら辺長)に逆比例し、微細接合ほど大きくなる。ノイズ起因のバラツキ成分は近似的に接合抵抗に比例の依存性を持つため、微細化による増大の程度は面積バラツキによるものより強い。 |
| 抄録(英) | We studied the spread of the critical current (I_c) for Nb-AlOx-Nb Josephson junctions. Room temperature measurements for the junction resistance gave the reasonable dependence of the JJ area. Low temperature measurements of IV characteristics for serial JJ arrays gave the I_c spreads consisting of two components, one is the JJ area component and the other is originated from the noise of the measurement system and test circuits. We proposed the model explaining the noise-origin I_c spread. Estimation based on the model showed good agreement with the measured JJ-size dependence. |
| キーワード(和) | ニオブ / ジョセフソン接合 / 臨界電流値 / SFQ / バラツキ / JJ面積 / ノイズ |
| キーワード(英) | niobium / Josephson junction / critical current / SFQ / critical current spread / JJ area / noise |
| 資料番号 | SCE2010-27 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 2010/10/12(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Nb-AlO_x-Nbジョセフソン接合における臨界電流値バラツキの解析(超伝導エレクトロニクス基盤技術及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis on Critical Current Spread of Nb-AlO-Nb Josephson Junctions |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ニオブ / niobium |
| キーワード(2)（和/英） | ジョセフソン接合 / Josephson junction |
| キーワード(3)（和/英） | 臨界電流値 / critical current |
| キーワード(4)（和/英） | SFQ / SFQ |
| キーワード(5)（和/英） | バラツキ / critical current spread |
| キーワード(6)（和/英） | JJ面積 / JJ area |
| キーワード(7)（和/英） | ノイズ / noise |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 日野出 憲治 / Kenji HINODE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | (財)国際超電導産業技術研究センター International Superconductivity Technology Center |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 佐藤 哲朗 / Tetsuro SATOH |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (財)国際超電導産業技術研究センター International Superconductivity Technology Center |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 永沢 秀一 / Shuichi NAGASAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (財)国際超電導産業技術研究センター International Superconductivity Technology Center |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 日高 睦夫 / Mutsuo HIDAKA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | (財)国際超電導産業技術研究センター International Superconductivity Technology Center |
| 発表年月日 | 2010-10-19 |
| 資料番号 | SCE2010-27 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 235 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |