| 講演名 | 2010-08-27 光再構成型ゲートアレイのレーザーアレイ故障の復旧方法(光部品・電子デバイス実装技術,一般) 渡辺 貴弘, 渡邊 実, |
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| 抄録(和) | 宇宙開発の重要性がますます高まる中,ASIC(Application Specific Integrated Circuit)に比べて開発の時間とコストを削減できるプログラマブルデバイスに期待が集まっている.特に再プログラム可能なプログラマブルデバイスは仕様変更が容易であることから人工衛星や探査機への応用が期待されている.しかし,プログラマブルデバイス,特に再プログラム可能なFPGA(Field-programmable gate array)は,通常のVLSI(Very-large-scale integration)と異なり,宇宙放射線の影響で回路情報が破壊される危険性がつきまとう.そこで我々は,レーザーアレイ,ホログラムメモリ,ゲートアレイVLSIを組み合わせた,高い不良耐性と高い処理能力を持つ光再構成型ゲートアレイを開発している.しかし,この光再構成型ゲートアレイにも発生頻度は低いものの,致命的なレーザーアレイの故障モードが存在した.本稿では,その致命的な故障モードから復旧する手法と,その試験結果を示す. |
| 抄録(英) | Demand for FPGAs that are usable under a space radiation environment is increasing daily. However, such high energy charged particles break a configuration context on an FPGA so that hardware itself is not robust in addition to software operations. On the other hand, Optically reconfigurable gate array (ORGA) architecture achieves not only high performance but also extreme robustness for such high-energy charged particles. However, the ORGA has an unallowable failure mode, which is a turn-off failure mode of Lasers on a Laser array. Therefore, this paper presents a proposal of a recovery method for the turn-off failure mode in an ORGA and presents its demonstration results. |
| キーワード(和) | 光再構成型ゲートアレイ / FPGA / ホログラムメモリ / 故障耐性 |
| キーワード(英) | Optically Reconfigurable Gate Arrays (ORGAs) / FPGAs / Holographic memories / Fault tolerance |
| 資料番号 | EMD2010-55,CPM2010-71,OPE2010-80,LQE2010-53 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2010/8/19(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光再構成型ゲートアレイのレーザーアレイ故障の復旧方法(光部品・電子デバイス実装技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Recovery method for a laser array failure on Optically Reconfigurable Gate Arrays |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 光再構成型ゲートアレイ / Optically Reconfigurable Gate Arrays (ORGAs) |
| キーワード(2)（和/英） | FPGA / FPGAs |
| キーワード(3)（和/英） | ホログラムメモリ / Holographic memories |
| キーワード(4)（和/英） | 故障耐性 / Fault tolerance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 渡辺 貴弘 / Takahiro WATANABE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 静岡大学工学部 Faculty of Engineering, Shizuoka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 渡邊 実 / Minoru WATANABE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 静岡大学工学部 Faculty of Engineering, Shizuoka University |
| 発表年月日 | 2010-08-27 |
| 資料番号 | EMD2010-55,CPM2010-71,OPE2010-80,LQE2010-53 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 178 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |