| 講演名 | 2010-08-26 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般) 和田 真一, 越田 圭治, / ノロブリン サインダー, 小田部 正能, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.時空間領域において,基板に対して,外力として単位ステップ関数の組み合わせを使用した平板における連続体近似モデルを構築し,実験結果と比較しうる可能性を示唆した.また,コネクタにおける摩擦力および慣性力を考慮した簡単なモデル化を行い,実験値との対応を検討し,接点における時系列振動を解析し,さらに電気接点における劣化現象を説明しうる可能性を示唆した.初期条件・境界条件を考慮してこれらのモデルを用いることで変位・加速度・力学的エネルギーなどの基本的な力学量に関する考察を行いうる可能性を示唆した. |
| 抄録(英) | The authors have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering oscillation and studied the influences of a micro-oscillation on the contacts. In time & space fields, by combinations of unit step functions as external force, it was suggested that mathematical approach was able to be compared with experimental data using continuous approximation to a thin plate. In consideration of friction force & inertial force generated in connectors it was suggested that another model was able to be compared with experimental data and to explain the time series oscillation on the electrical contacts and the degradation phenomenon of electrical contacts. By making use of these models and by initial & boundary conditions, it was suggested that the approximate estimation of fundamental mechanical quantities, such as displacement, acceleration and mechanical energy was able to be carried out. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 劣化現象 / ハンマリング加振機構 / 微小振動 / 摩擦力 / 慣性力 / 数理モデル |
| キーワード(英) | electrical contact / degradation phenomenon / hammering oscillating mechanism / microoscillation / frictional force / inertial force / mathematical model |
| 資料番号 | EMD2010-26,CPM2010-42,OPE2010-51,LQE2010-24 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2010/8/19(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism : modeling of the oscillating mechanism (9) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化現象 / degradation phenomenon |
| キーワード(3)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(4)（和/英） | 微小振動 / microoscillation |
| キーワード(5)（和/英） | 摩擦力 / frictional force |
| キーワード(6)（和/英） | 慣性力 / inertial force |
| キーワード(7)（和/英） | 数理モデル / mathematical model |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | / ノロブリン サインダー / Taketo SONODA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | / TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 小田部 正能 / Saindaa NOROVLIN |
| 第 4 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Masayoshi KOTABE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学:日本工業大学 TMC System Co., Ltd. |
| 発表年月日 | 2010-08-26 |
| 資料番号 | EMD2010-26,CPM2010-42,OPE2010-51,LQE2010-24 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 178 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |