| 講演名 | 2010-07-22 デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路) 小林 春夫, 山口 隆弘, |
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| 抄録(和) | この論文ではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して現状と問題点を示し,次の2つの内容について考察する.(i)デジタル自己校正やデジタル誤差補正を用いてアナログRF回路を高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある.この製造出荷時テスト法に関する考察を行う.(ii)微細CMOS SoC内ではDSPコア,メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い.これらを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術について考察する. |
| 抄録(英) | This paper reviews current production testing issues for analog and mixed-signal SoC, and discusses the following: (i)Digitally-assisted analog technology prevails in mixed-signal SoC with fine CMOS which uses digital-rich architecture, digital self-calibration and error correction, and we consider their effective production testing. (ii)Mixed-signal SoCs frequently incorporate digital resources such as DSP cores and memory. We discuss how such resources can be utilized to simplify production testing of the analog RF circuitry in the SoC. |
| キーワード(和) | デジタルアシスト・アナログ技術 / デジタルアシスト・アナログテスト技術 / テスト容易化 / 自己校正 / デジタル誤差補正 |
| キーワード(英) | Digitally-Assisted Analog Technology / Digitally-Assisted Analog Test Technology / Design for Testability / Self-Calibration / Digital Error Correction |
| 資料番号 | ICD2010-27 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2010/7/15(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Digitally-Assisted Analog Test Technology : Analog Circuit Test Technology in Nano-CMOS Era |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | デジタルアシスト・アナログ技術 / Digitally-Assisted Analog Technology |
| キーワード(2)（和/英） | デジタルアシスト・アナログテスト技術 / Digitally-Assisted Analog Test Technology |
| キーワード(3)（和/英） | テスト容易化 / Design for Testability |
| キーワード(4)（和/英） | 自己校正 / Self-Calibration |
| キーワード(5)（和/英） | デジタル誤差補正 / Digital Error Correction |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小林 春夫 / Haruo KOBAYASHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻 Dept. of Electronic Engineering, Gunma University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山口 隆弘 / Takahiro J. YAMAGUCHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻 Dept. of Electronic Engineering, Gunma University |
| 発表年月日 | 2010-07-22 |
| 資料番号 | ICD2010-27 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 140 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |