| 講演名 | 2010-07-22 90nm CMOS差動対トランジスタのV_ | とAC応答のその場評価(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路) 坂東 要志, 高谷 聡, 長谷川 貴士, 大川 徹, 早田 征明, 宝本 敏治, 山田 利夫, 熊代 成孝, 最上 徹, 永田 真, | ||
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| 抄録(和) | 1.0V 90nm CMOSプロセスにおいて、増幅回路の差動対個々のトランジスタのV_ | をDC測定によってその場評価できるテストチップの開発を行った。また、連続時間で信号波形を検出できるオンチップモニタ回路を同時に実装し、V_ | 評価とAC応答の両方を同じトランジスタについて評価できる評価系の構築を行い、実測評価を行った。これらの結果より、差動増幅回路におけるV_ | とAC利得の相関性を評価した。意図的に非対称な設計を行った増幅回路の差動対を評価することにより、差動対のミスマッチ量と同相信号除去効果の劣化を実験的に評価した。 |
| 抄録(英) | In-situ DC measurements of individual transistors in a differential pair of an analog amplifier derive threshold voltage, V_ | , of 1.0 V transistors in a 90 nm CMOS technology. On-chip continuous time waveform monitoring is used to evaluate AC response of the same amplifier. The distribution of AC gain versus V_ | of transistors within amplifiers is captured. The degradation of common-mode rejection property is observed for an amplifier with intentionally introduced mismatches to the pair of transistors. | |
| キーワード(和) | その場評価 / 差動増幅回路 / V_ | / AC応答 / オンチップノイズモニタ | ||
| キーワード(英) | in-situ evaluation / differential amplifier / V_ | / AC response / on-chip noise monitor | ||
| 資料番号 | ICD2010-23 | |||
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2010/7/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |||
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) | ||
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| 本文の言語 | JPN | ||
| タイトル（和） | 90nm CMOS差動対トランジスタのV_ | とAC応答のその場評価(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路) | |
| サブタイトル（和） | |||
| タイトル（英） | In-situ Evaluation of V_ | and AC Gain of 90nm CMOS Differential Pair Transistors | |
| サブタイトル（和） | |||
| キーワード(1)（和/英） | その場評価 / in-situ evaluation | ||
| キーワード(2)（和/英） | 差動増幅回路 / differential amplifier | ||
| キーワード(3)（和/英） | V_ | / V_ | |
| キーワード(4)（和/英） | AC応答 / AC response | ||
| キーワード(5)（和/英） | オンチップノイズモニタ / on-chip noise monitor | ||
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 坂東 要志 / Yoji BANDO | ||
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Informatics, Kobe University |
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| 第 2 著者 氏名（和/英） | 高谷 聡 / Satoshi TAKAYA | ||
| 第 2 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Informatics, Kobe University |
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| 第 3 著者 氏名（和/英） | 長谷川 貴士 / Takashi HASEGAWA | ||
| 第 3 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Informatics, Kobe University |
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| 第 4 著者 氏名（和/英） | 大川 徹 / Toru OHKAWA | ||
| 第 4 著者 所属（和/英） | (株)半導体先端テクノロジーズ MIRAI-Selete |
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| 第 5 著者 氏名（和/英） | 早田 征明 / Masaaki SOUDA | ||
| 第 5 著者 所属（和/英） | (株)半導体先端テクノロジーズ MIRAI-Selete |
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| 第 6 著者 氏名（和/英） | 宝本 敏治 / Toshiharu TAKARAMOTO | ||
| 第 6 著者 所属（和/英） | (株)半導体先端テクノロジーズ MIRAI-Selete |
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| 第 7 著者 氏名（和/英） | 山田 利夫 / Toshio YAMADA | ||
| 第 7 著者 所属（和/英） | (株)半導体先端テクノロジーズ MIRAI-Selete |
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| 第 8 著者 氏名（和/英） | 熊代 成孝 / Shigetaka KUMASHIRO | ||
| 第 8 著者 所属（和/英） | (株)半導体先端テクノロジーズ MIRAI-Selete |
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| 第 9 著者 氏名（和/英） | 最上 徹 / Tohru MOGAMI | ||
| 第 9 著者 所属（和/英） | (株)半導体先端テクノロジーズ MIRAI-Selete |
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| 第 10 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto NAGATA | ||
| 第 10 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Informatics, Kobe University |
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| 発表年月日 | 2010-07-22 | ||
| 資料番号 | ICD2010-23 | ||
| 巻番号（vol） | vol.110 | ||
| 号番号（no） | 140 | ||
| ページ範囲 | pp.- | ||
| ページ数 | 4 | ||
| 発行日 | |||