講演名 | 2010-07-22 オンチップモニタを用いたSoC電源供給系の診断法(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路) 橋田 拓志, 松本 大, 永田 真, |
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抄録(和) | 本研究では、時間、電圧それぞれについて10ps、200μVの1024ステップの分解能を有し、SFDRで63.2dBでの波形取得精度、および700MHzの波形取得帯域をもつオンチップ波形取得方法を示す。波形の取得機構や、取得後のデジタル処理系は、Systems on Chip(SoC)の各要素回路と共有されている。また、SoCの回路から見た電源供給系の実効的なLCR寄生成分を電源供給系の共振波形から抽出するための励振回路も搭載した。 |
抄録(英) | On-chip waveform capture exhibits the resolution of 10 ps and 200 μV with 1024 steps, and SFDR of 63.2dB in 700-MHz signal bandwidth of interest. On-chip signal probing as well as digital waveform processing are merged in systems-on-a-chip (SoC) integration. An exciter is combined for on-chip derivation of LCR parasitics from oscillatory waveforms of a power delivery network that are effectively seen by SoC circuits. |
キーワード(和) | オンチップモニタ / 電源雑音 / 電源信頼性 |
キーワード(英) | On-chip monitoring / Power supply noise / Power integrity |
資料番号 | ICD2010-21 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
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開催期間 | 2010/7/15(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | オンチップモニタを用いたSoC電源供給系の診断法(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | On-Chip Waveform Capture and Diagnosis of Power Delivery in SoC Integration |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | オンチップモニタ / On-chip monitoring |
キーワード(2)(和/英) | 電源雑音 / Power supply noise |
キーワード(3)(和/英) | 電源信頼性 / Power integrity |
第 1 著者 氏名(和/英) | 橋田 拓志 / Takushi HASHIDA |
第 1 著者 所属(和/英) | 神戸大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Kobe University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 松本 大 / Hiroshi MATSUMOTO |
第 2 著者 所属(和/英) | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Infomatics, Kobe University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 永田 真 / Makoto NAGATA |
第 3 著者 所属(和/英) | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Infomatics, Kobe University |
発表年月日 | 2010-07-22 |
資料番号 | ICD2010-21 |
巻番号(vol) | vol.110 |
号番号(no) | 140 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |