| 講演名 | 2010-03-05 アクティブタグ通信における周波数偏差補正法の検討(一般,移動通信ワークショップ) 中尾 早苗, 大島 俊, |
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| 抄録(和) | UHF帯のRFID(radio frequency identification)システムでは,リーダとアクティブタグ間の通信時に最大で40kHZの周波数偏差が生じる。周波数偏差を補正しない場合,受信信号のアイ開口度の劣化を招き,BER(bit error rate)を増加させる。実用においては,隣接チャネルを他のアクティブタグが使用することを考慮して,妨害波の存在下でも周波数偏差を補正できることが必要になる。本稿では,PLLを利用した周波数偏差検出方法を提案する。偏差検出部への入力時点でSIR(signal to interference ratio)が0dBとなる妨害波が存在する場合においても40kHZの周波数偏差を正しく検出できることを示した。 |
| 抄録(英) | UHF-band active RFID (radio frequency identification) systems need to communicate each other correctly under existence of a frequency offset up to 40-kHz between a reader and a tag, because the frequency tolerance to the specified low power radio station in 950 MHz-band is 20-ppm. This frequency offset degrades eye openings of the transceiver largely. Therefore, the BER (bit error rate) between the reader and the tag increases. In a practical use, the frequency offset have to be compensated under large adjacent channel interference. This paper proposes an effective method to compensate the frequency offset using a numerical PLL. This enables us to detect offset frequency accurately under the adjacent channel interference which SIR (signal to interference ratio) is 0 dB. |
| キーワード(和) | RFID / UHF帯 / アクティブタグ / 周波数偏差 / 補正 |
| キーワード(英) | RFID / UHF-band / active tag / frequency offset / compensation |
| 資料番号 | RCS2009-340 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | RCS |
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| 開催期間 | 2010/2/24(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Radio Communication Systems (RCS) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | アクティブタグ通信における周波数偏差補正法の検討(一般,移動通信ワークショップ) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A study on a frequency offset compensation method for active RFID systems |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | RFID / RFID |
| キーワード(2)（和/英） | UHF帯 / UHF-band |
| キーワード(3)（和/英） | アクティブタグ / active tag |
| キーワード(4)（和/英） | 周波数偏差 / frequency offset |
| キーワード(5)（和/英） | 補正 / compensation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中尾 早苗 / Sanae NAKAO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社日立製作所中央研究所 Hitachi, Ltd., Central Research Laboratory |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大島 俊 / Takashi OSHIMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社日立製作所中央研究所 Hitachi, Ltd., Central Research Laboratory |
| 発表年月日 | 2010-03-05 |
| 資料番号 | RCS2009-340 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 440 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |