講演名 2010-04-22
しきい値電圧自己調整機能による60%スタティック・ノイズ・マージン(SNM)増加,32%アクティブ電力削減,42%リーク電流削減の強誘電体FETを使用した6T-SRAM(低電力SRAM/DRAM,メモリ(DRAM, SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
田中丸 周平, 畑中 輝義, 矢島 亮児, 高橋 光恵, 酒井 滋樹, 竹内 健,
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抄録(和) 強誘電体トランジスタを使用した0.5V動作の6T-SRAMが提案され,実験的に実証された.提案のSRAMはNMOSの基板とPMOSの基板をそれぞれV_
とV_に接続する.読み出しと保持動作では,強誘電体トランジスタのしきい値電圧が自動的に変化し,スタティック・ノイズ・マージンが60%増加する.また,保持動作中はリークパスとなるトランジスタのしきい値電圧が高くなっているためリーク電流が42%削減される.スタティック・ノイズ・マージンの増加によって電源電圧が0.11V削減され,アクティブ電力が32%削減される.トランジスタ数が6つであるため,提案のSRAMは最小の面積を実現している.
抄録(英) A 0.5V 6T-SRAM with ferroelectric (Fe-) FETs is proposed and experimentally demonstrated for the first time. The proposed SRAM has a unique configuration to apply the body of NMOS and PMOS with V_
and V_. During the read and the hold, the V_
of Fe-FETs automatically changes to increase the static noise margin, SNM, by 60%. During the sand-by, the V_ of the proposed SRAM cell increases to decrease the leakage current by 42%. The enlarged SNM realizes the V_
reduction by 0.11V, which decreases the active power by 32%. Since the transistor count is minimized to 6, the proposed SRAM realizes the smallest area.
キーワード(和) 強誘電体 / Fe-FET / SRAM
キーワード(英) Ferroelectric / Fe-FET / SRAM
資料番号 ICD2010-5
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2010/4/15(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) しきい値電圧自己調整機能による60%スタティック・ノイズ・マージン(SNM)増加,32%アクティブ電力削減,42%リーク電流削減の強誘電体FETを使用した6T-SRAM(低電力SRAM/DRAM,メモリ(DRAM, SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英) 32% Lower Active Power, 42% Lower Leakage Current Ferroelectric 6T-SRAM with V_ Self-Adjusting Function for 60% Larger Static Noise Margin (SNM)
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 強誘電体 / Ferroelectric
キーワード(2)(和/英) Fe-FET / Fe-FET
キーワード(3)(和/英) SRAM / SRAM
第 1 著者 氏名(和/英) 田中丸 周平 / Shuhei TANAKAMARU
第 1 著者 所属(和/英) 東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース
Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo
第 2 著者 氏名(和/英) 畑中 輝義 / Teruyoshi HATANAKA
第 2 著者 所属(和/英) 東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース
Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo
第 3 著者 氏名(和/英) 矢島 亮児 / Ryoji YAJIMA
第 3 著者 所属(和/英) 東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース
Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo
第 4 著者 氏名(和/英) 高橋 光恵 / Mitsue TAKAHASHI
第 4 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
第 5 著者 氏名(和/英) 酒井 滋樹 / Shigeki SAKAI
第 5 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
第 6 著者 氏名(和/英) 竹内 健 / Ken TAKEUCHI
第 6 著者 所属(和/英) 東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース
Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo
発表年月日 2010-04-22
資料番号 ICD2010-5
巻番号(vol) vol.110
号番号(no) 9
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日