講演名 | 2010-04-22 しきい値電圧自己調整機能による60%スタティック・ノイズ・マージン(SNM)増加,32%アクティブ電力削減,42%リーク電流削減の強誘電体FETを使用した6T-SRAM(低電力SRAM/DRAM,メモリ(DRAM, SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術) 田中丸 周平, 畑中 輝義, 矢島 亮児, 高橋 光恵, 酒井 滋樹, 竹内 健, |
||
---|---|---|---|
PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ | ||
抄録(和) | 強誘電体トランジスタを使用した0.5V動作の6T-SRAMが提案され,実験的に実証された.提案のSRAMはNMOSの基板とPMOSの基板をそれぞれV_ |
||
抄録(英) | A 0.5V 6T-SRAM with ferroelectric (Fe-) FETs is proposed and experimentally demonstrated for the first time. The proposed SRAM has a unique configuration to apply the body of NMOS and PMOS with V_ of Fe-FETs automatically changes to increase the static noise margin, SNM, by 60%. During the sand-by, the V_ | of the proposed SRAM cell increases to decrease the leakage current by 42%. The enlarged SNM realizes the V_ | |
キーワード(和) | 強誘電体 / Fe-FET / SRAM | ||
キーワード(英) | Ferroelectric / Fe-FET / SRAM | ||
資料番号 | ICD2010-5 | ||
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
---|---|
開催期間 | 2010/4/15(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
委員長氏名(英) | |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | ||
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) | |
---|---|---|
本文の言語 | JPN | |
タイトル(和) | しきい値電圧自己調整機能による60%スタティック・ノイズ・マージン(SNM)増加,32%アクティブ電力削減,42%リーク電流削減の強誘電体FETを使用した6T-SRAM(低電力SRAM/DRAM,メモリ(DRAM, SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術) | |
サブタイトル(和) | ||
タイトル(英) | 32% Lower Active Power, 42% Lower Leakage Current Ferroelectric 6T-SRAM with V_ | Self-Adjusting Function for 60% Larger Static Noise Margin (SNM) |
サブタイトル(和) | ||
キーワード(1)(和/英) | 強誘電体 / Ferroelectric | |
キーワード(2)(和/英) | Fe-FET / Fe-FET | |
キーワード(3)(和/英) | SRAM / SRAM | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 田中丸 周平 / Shuhei TANAKAMARU | |
第 1 著者 所属(和/英) | 東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo |
|
第 2 著者 氏名(和/英) | 畑中 輝義 / Teruyoshi HATANAKA | |
第 2 著者 所属(和/英) | 東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo |
|
第 3 著者 氏名(和/英) | 矢島 亮児 / Ryoji YAJIMA | |
第 3 著者 所属(和/英) | 東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo |
|
第 4 著者 氏名(和/英) | 高橋 光恵 / Mitsue TAKAHASHI | |
第 4 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
|
第 5 著者 氏名(和/英) | 酒井 滋樹 / Shigeki SAKAI | |
第 5 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
|
第 6 著者 氏名(和/英) | 竹内 健 / Ken TAKEUCHI | |
第 6 著者 所属(和/英) | 東京大学工学系研究科電気系工学専攻融合情報コース Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo |
|
発表年月日 | 2010-04-22 | |
資料番号 | ICD2010-5 | |
巻番号(vol) | vol.110 | |
号番号(no) | 9 | |
ページ範囲 | pp.- | |
ページ数 | 6 | |
発行日 |