| 講演名 | 2009-12-14 CMOS-RF回路における基板結合の評価と解析(若手研究会) 東 直矢, 永田 真, |
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| 抄録(和) | 高周波アナログ回路における基板ノイズの影響を,基板へ直接ノイズを注入することによって評価した。90nmプロセス2.45GHz帯のCMOS RFドライバアンプを使用し,ガードバンドのp^+を通じP基板に直接ノイズを注入,出力に現れるノイズの周波数成分や高調波成分を測定した。シミュレーションにおいて,素子の基板との結合,プローブ,パッド,主要な配線容量,ウェル,シリコン基板をモデル化を行い,出力されるノイズの一次成分を2dB以下の誤差で再現した。 |
| 抄録(英) | Susceptibility of radio frequency (RF) circuits against environmental noises was evaluated by way of direct power injection. Measurements performed on a 90-nm 2.45 GHz CMOS RF driver amplifier show that the injection of RF power into on-die p^+ guard bands creates tones at the primary and up-converted frequencies. Simulation achieves the error of less than 2dB against the measured susceptibility of -40dB, with the models of passive impedance networks covering probing tips, die pads, metal wirings, as well as a silicon substrate. |
| キーワード(和) | 基板ノイズ / 基板結合 / アンプ / 高周波 |
| キーワード(英) | Substrate noise / Substrate coupling / Amplifier / RF |
| 資料番号 | ICD2009-83 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2009/12/7(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | CMOS-RF回路における基板結合の評価と解析(若手研究会) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurement and Simulation of Substrate Coupling of CMOS-RF Circuit |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 基板ノイズ / Substrate noise |
| キーワード(2)（和/英） | 基板結合 / Substrate coupling |
| キーワード(3)（和/英） | アンプ / Amplifier |
| キーワード(4)（和/英） | 高周波 / RF |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 東 直矢 / NAOYA Azuma |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神戸大学 Kobe University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto NAGATA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 神戸大学 Kobe University |
| 発表年月日 | 2009-12-14 |
| 資料番号 | ICD2009-83 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 336 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |