| 講演名 | 2010-03-05 電磁界解析によるFPGAからの局所情報取得(一般:情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会) 落合 隆夫, 山本 大, 伊藤 孝一, 武仲 正彦, 鳥居 直哉, 内田 大輔, 永井 利明, 若菜 伸一, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 電磁界ノイズを用いたサイドチャネル攻撃は,非接触,非破壊で行うことができるだけでなく,測定箇所を自由に決定できるため,選択的に秘匿情報を取得できる可能性が指摘されている.本稿では,SASEBOの暗号実装用FPGAに実装された128bitブロック暗号AESを攻撃対象とし,市販の高分解能プローブを用いて複数個所の電磁波測定を行った.その結果,暗号レジスタの位置情報に依存した解析結果が得られること,そして測定箇所によっては相関係数の最小値から暗号鍵の推定ができることがわかった. |
| 抄録(英) | A side channel attack by means of electromagnetic analysis for SASEBO-AES was investigated. Local information from FPGA mounted on SASEBO-AES was observed using a commercial magnetic probe which has spatial resolution of 250 μm. We also found that negative and minimum correlation factor was obtained, and indicated correct key byte in some of point of measurement. Our results show that, in electromagnetic analysis, not only maximum values but also negatives should be taken account for estimation of encryption key. |
| キーワード(和) | サイドチャネル攻撃 / 電磁界解析 / 相関電力解析 / 局所情報 / SASEBO / AES / FPGA |
| キーワード(英) | Side Channel Attack / Electro Magnetic Analysis / Correlation Power Analysis / Local Information |
| 資料番号 | IT2009-105,ISEC2009-113,WBS2009-84 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | IT |
|---|---|
| 開催期間 | 2010/2/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Information Theory (IT) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 電磁界解析によるFPGAからの局所情報取得(一般:情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Obtaining Local Information from FPGA Using Electromagnetic Analysis |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / Side Channel Attack |
| キーワード(2)（和/英） | 電磁界解析 / Electro Magnetic Analysis |
| キーワード(3)（和/英） | 相関電力解析 / Correlation Power Analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 局所情報 / Local Information |
| キーワード(5)（和/英） | SASEBO |
| キーワード(6)（和/英） | AES |
| キーワード(7)（和/英） | FPGA |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 落合 隆夫 / Takao OCHIAI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 FUJITSU LABORATORIES Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山本 大 / Dai YAMAMOTO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 FUJITSU LABORATORIES Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 伊藤 孝一 / Kouichi ITOH |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 FUJITSU LABORATORIES Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 武仲 正彦 / Masahiko TAKENAKA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 FUJITSU LABORATORIES Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 鳥居 直哉 / Naoya TORII |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 FUJITSU LABORATORIES Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 内田 大輔 / Daisuke UCHIDA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 FUJITSU LABORATORIES Ltd. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 永井 利明 / Toshiaki NAGAI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 FUJITSU LABORATORIES Ltd. |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 若菜 伸一 / Shinichi WAKANA |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 FUJITSU LABORATORIES Ltd. |
| 発表年月日 | 2010-03-05 |
| 資料番号 | IT2009-105,ISEC2009-113,WBS2009-84 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 444 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | |