| 講演名 | 2010-07-12 光学的手法によるITO/PI/P3HT/Au構造内部のキャリア挙動の評価(フレキシブルエレクトロニクス) 宮沢 亮, 田口 大, 間中 孝彰, 岩本 光正, |
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| 抄録(和) | 近年、有機材料デバイスは軽量、柔軟性、コスト面で優れる電子デバイスとして注目されており、実用化に向けてその特性の向上が急務である。そのためには、有機トランジスタ内部でのキャリアの注入、蓄積、輸送過程を理解する必要があるが、有機材料内部のキャリアが不明確であるため電流電圧特性といった間接的な手法を使っただけで、キャリア挙動を理解することは困難である。そこで本研究では光第二次高調波(SHG)法といった光学的手法を用いて、有機材料内部のキャリア挙動を直接観測し、有機デバイスの動作機構を明らかにすることを目指している。これまでにC-V特性からITO/PI/P3HT/AuのMIS構造内部に光照射やバイアス印加によって電子がトラップされることがわかったが、その空間的位置は不明であった。そこで、電子トラップがP3HT内部に形成する電界からトラップ分布を得るために電界誘起光第二次高調波発生(EFISHG)測定を行い解析した。そして電子トラップはPI絶縁体内部に蓄積されることが明らかにした。 |
| 抄録(英) | Organic devices have been attracted for its light weight, flexibility, low cost fabrication. To improve their performance, understanding for carrier injection, accumulation and transport process is needed. However, it is difficult to comprehend these processes by only using indirect methods, e.g., I-V measurement, because of ambiguity of carrier behaviors in organic materials. On the basis of back grounds, we believe that optical methods like second harmonic generation(SHG)method is useful to understand carrier behaviors in organic materials because it can directly probe carrier motion. Using C-V measurements, we have revealed that electron were trapped by photoillumination and biasing in MIS(ITO/PI/P3HT/Au), though the location of electron traps was unknown. In this study, we conducted electric field induced second harmonic generation(EFISHG)and probed the electric field formed by electron traps. We showed the presence of electron traps in PI layers. |
| キーワード(和) | SHG / P3HT / Polyimide / 電子トラップ |
| キーワード(英) | CMS / P3HT / Polyimide / electron trap |
| 資料番号 | EID2010-6,OME2010-41 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 2010/7/5(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光学的手法によるITO/PI/P3HT/Au構造内部のキャリア挙動の評価(フレキシブルエレクトロニクス) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Probing of Carrier Behaviors in ITO/PI/P3HT/Au Using Optical method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | SHG / CMS |
| キーワード(2)（和/英） | P3HT / P3HT |
| キーワード(3)（和/英） | Polyimide / Polyimide |
| キーワード(4)（和/英） | 電子トラップ / electron trap |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 宮沢 亮 / Ryo MIYAZAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻 Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 田口 大 / Dai TAGUCHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻 Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 間中 孝彰 / Takaaki MANAKA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻 Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 岩本 光正 / Mitsumasa IWAMOTO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻 Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2010-07-12 |
| 資料番号 | EID2010-6,OME2010-41 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 123 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |