講演名 2010-06-21
レイアウト構造を意識したばらつきモデル化及びそのオペアンプ設計における検証(システムと信号処理及び一般)
篠原 宏太, 日高 美穂子, 薫 青, 李 静, 中武 繁寿,
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抄録(和) 微細化・低電圧化か進むアナログ集積回路の開発においては、トランジスタ特性のばらつき解析が重要となる。本研究では、TEGにより収集したばらつき情報に基づきレイアウト構造に依存するばらつきをモデル化する。また、そのモデルに基づくモンテカルロ解析の結果と90nmプロセスで開発したオベアンプのオフセット電圧のばらつき評価との相関について検証する。
抄録(英) As geometrical scaling of the transistor dimensions, such as feature size and supply voltage, has dominated the semiconductor industry for greater chip density, the variation analysis of transistor characteristic also becomes more critical important for analog integrated circuit design. In this paper, we present a model for the layout structure dependent variation according to the variation data got from a TEG (test element group) chip, then a correlation analysis is made between the result of Monte Carlo analysis based on this model and the experimental verification result for the offset voltage variation in a 90nm Op-Amp.
キーワード(和) アナログレイアウト設計 / レイアウト構造依存性 / モンテカルロ解析 / オペアンプ設計
キーワード(英) analog layout design / layout-aware variation / Monte Carlo analysis / Op-Amp design
資料番号 CAS2010-7,VLD2010-17,SIP2010-28,CST2010-7
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2010/6/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 ENG
タイトル(和) レイアウト構造を意識したばらつきモデル化及びそのオペアンプ設計における検証(システムと信号処理及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Layout-aware Variation Modeling and Its Application to Op-Amp Design
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) アナログレイアウト設計 / analog layout design
キーワード(2)(和/英) レイアウト構造依存性 / layout-aware variation
キーワード(3)(和/英) モンテカルロ解析 / Monte Carlo analysis
キーワード(4)(和/英) オペアンプ設計 / Op-Amp design
第 1 著者 氏名(和/英) 篠原 宏太 / Kouta SHINOHARA
第 1 著者 所属(和/英) 北九州市立大学大学院国際環境工学研究科
第 2 著者 氏名(和/英) 日高 美穂子 / Mihoko HIDAKA
第 2 著者 所属(和/英) 北九州市立大学大学院国際環境工学研究科
第 3 著者 氏名(和/英) 薫 青 / Qing DONG
第 3 著者 所属(和/英) 北九州市立大学大学院国際環境工学研究科
第 4 著者 氏名(和/英) 李 静 / Jing LI
第 4 著者 所属(和/英) 北九州市立大学大学院国際環境工学研究科
第 5 著者 氏名(和/英) 中武 繁寿 / Shigetoshi NAKATAKE
第 5 著者 所属(和/英) 北九州市立大学大学院国際環境工学研究科
発表年月日 2010-06-21
資料番号 CAS2010-7,VLD2010-17,SIP2010-28,CST2010-7
巻番号(vol) vol.110
号番号(no) 87
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日