| 講演名 | 2009-12-04 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-) 野田 光政, 梶原 誠司, 佐藤 康夫, 宮瀬 紘平, 温 暁青, 三浦 幸也, |
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| 抄録(和) | VLSIの微細化に伴い,経時劣化による故障への対応が重要になってくる.劣化の進行度合いは,同じ回路であっても回路内の箇所によって異なる他,VLSIの利用状況(使用頻度や温度)で異なる.そのため,劣化の検知は,VLSIの出荷後にフィールドで行うことが望まれる.本論文では,BIST機構を用いたフィールドでの遅延テストを前提に,NBTIによる遅延増加の検知を行う際のテスト対象パス選択手法について,実動作に影響が生じやすいパスをテスト対象として選択する手法を述べる. |
| 抄録(英) | With the advanced VLSI process technology, it is important for reliability of VLSIs to deal with faults caused by aging. The speed of aging depends on not only the function of the circuit but also environment where the circuit is used. Hence detection of aging that would make a failure prefers to test on the field after shipping the VLSIs. This paper presents a method for selecting paths to be tested for delay degradation caused by NBTI under BIST-based self testing. |
| キーワード(和) | 劣化 / 負バイアス温度不安定性 / 遅延故障 / パス選択 |
| キーワード(英) | Aging / Negative Bias Temperature Instability / Delay Fault / Path selection |
| 資料番号 | VLD2009-65,DC2009-52 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2009/11/25(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Path Selection Method of Delay Test for Transistor Aging |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 劣化 / Aging |
| キーワード(2)（和/英） | 負バイアス温度不安定性 / Negative Bias Temperature Instability |
| キーワード(3)（和/英） | 遅延故障 / Delay Fault |
| キーワード(4)（和/英） | パス選択 / Path selection |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 野田 光政 / Mitsumasa NODA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学府 Kyushu Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo SATO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei MIYASE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing WEN |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 三浦 幸也 / Takaya MIURA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 首都大学東京システムデザイン学部:独立行政法人科学技術振興機構CREST Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University:JST CREST |
| 発表年月日 | 2009-12-04 |
| 資料番号 | VLD2009-65,DC2009-52 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 316 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |