| 講演名 | 2009-12-04 開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-) 眞田 克, 橋田 啓示, 安富 泰輝, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 不安定な出力論理を有するフローテイングゲート故障に対して、出力論理値を固定化する実験を行った。実験はゲートオープン故障を作り込んだサンプルに対して、外部から刺激を印加する方式である。刺激はレーザ照射と電界印加である。電気的特性をモニタしながらその効果を調べた。その結果、前者はフローテング状態による種々の特性に関わりなく出力電圧値をHに固定化できた。後者はフローテング状態の電気的特性に重畳した特性として確認できた。これらの現象はゲートオープン故障箇所の特定や故障診断へのアシストとして適用できる。セル内故障診断において、論理固定化したモデルを回路に埋め込むことで確度の高い故障候補を特定できる。 |
| 抄録(英) | An experiment for stabilization of output logic brought by floating gate fault with unsuitable electric value has been executed. The method is the way to apply outside impulse to LSI with gate open fault. The impulses are laser irradiation and electric field impression. The experimental result is that the former impulse brings stabilization of output logic value, regardless of a couple of electrical features brought by gate floating state, and the latter brings the change of electric value wrapped over electric property of floating gate. These phenomenon are applied to detect fault portion with gate open, and to assist fault diagnosis. For the fault diagnosis technology based on transistor level, the stabilized logic value is embedded in fault circuit and high accuracy candidate fault portions are detected. |
| キーワード(和) | フローテイングゲート故障 / 論理の固定化 / 故障診断 / レーザ照射 / 電界 |
| キーワード(英) | Floating gate fault / Stabilized logic value / Fault diagnosis technology / Laser irradiation / Electric field impression |
| 資料番号 | VLD2009-64,DC2009-51 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2009/11/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Logic stabilization way of open fault with unsuitable logic : Aim in simple diagnosis technology |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | フローテイングゲート故障 / Floating gate fault |
| キーワード(2)（和/英） | 論理の固定化 / Stabilized logic value |
| キーワード(3)（和/英） | 故障診断 / Fault diagnosis technology |
| キーワード(4)（和/英） | レーザ照射 / Laser irradiation |
| キーワード(5)（和/英） | 電界 / Electric field impression |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 眞田 克 / Masaru SANADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 高知工科大学工学部電子・光システム工学科 Dept. Electronic and Photonic Systems Engineering, Kochi University of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 橋田 啓示 / Keiji HASHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | ルネサスデザインシステムLSI第二本部 System LSI Department, Renesas Design Co,. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 安富 泰輝 / Taiki YASUTOMI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 高知工科大学工学部電子・光システム工学科 Dept. Electronic and Photonic Systems Engineering, Kochi University of Technology |
| 発表年月日 | 2009-12-04 |
| 資料番号 | VLD2009-64,DC2009-51 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 316 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |