| 講演名 | 2009-12-04 テスト圧縮指向ドントケア抽出法(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-) 若園 大洋, 細川 利典, 吉村 正義, |
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| 抄録(和) | 近年VLSIの大規模化,複雑化に伴い,テストパターン数の増大、故障モデルの多様化が問題となっている.それらの問題を解決するために高品質,低コストのテストパターンが必要となっている.高品質,低コストのテスト生成を実現する手法の一つとしてドントケア抽出が存在する.しかしながら,従来のドントケア抽出技術では特定のテストパターンや外部入力にドントケアビットが偏ってしまい,テスト圧縮など特定の適用分野に悪影響を及ぼしている可能性がある.本論文では,入力されたテスト集合に対しケアビットを制御し,圧縮に効果的なドントケア抽出法を提案する.ITC'99ベンチマーク回路とISCAS'89ベンチマーク回路と本手法で生成したテスト集合に対しテスト圧縮を適用し,圧縮率を評価したので報告する. |
| 抄録(英) | In recent year, the growing density and complexity for VLSIs cause an increase in the number of test pattern and an increase in the number of fault models to be tested high quality and low cost test pattern are required to solve their problems. One of test generation methods to get high quality and low cost test pattern is a don't care identification technique. Therefore, it may have a bad influence an application specific fields like a test compaction. In this paper, we propose a test compaction oriented don't care identification method which controls care bits in a test set. Experimental results for ITC'99 benchmark circuits and ISCAS'89 benchmark circuits show that a given test set can be efficiently compacted the proposed method. |
| キーワード(和) | ドントケア抽出 / ケアビット分布 / テスト圧縮 / 必須故障 |
| キーワード(英) | don't care identification / care bit distribution / test compaction / essential faults |
| 資料番号 | VLD2009-62,DC2009-49 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2009/11/25(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | テスト圧縮指向ドントケア抽出法(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Compaction Oriented Don't Care Identification Method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ドントケア抽出 / don't care identification |
| キーワード(2)（和/英） | ケアビット分布 / care bit distribution |
| キーワード(3)（和/英） | テスト圧縮 / test compaction |
| キーワード(4)（和/英） | 必須故障 / essential faults |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 若園 大洋 / Motohiro WAKAZONO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学大学院生産工学研究科 Graduate School of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori HOSOKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学生産工学部 College of Industrial Technology, Nihon University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi YOSHIMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州大学大学院システム情報科学研究院 Graduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University |
| 発表年月日 | 2009-12-04 |
| 資料番号 | VLD2009-62,DC2009-49 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 316 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |