| 講演名 | 2009-11-19 Constriction resistance analysis of multi-contact spots , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | Many researchers have studied influences of contact shape, plating conditions, and surface roughness on constriction resistance at a contact point. However, detail research to know how constriction resistance of the apparent contact area depends on the distribution status of the real contact points and on the total real contact area has not been performed. In our study, therefore, constriction resistance is calculated by numerical analysis using Laplace's equations for electric potential in the steady state in many cases of contact spot dispersion status. The results show that the apparent contact resistance with only 15% real contact area does not increase beyond 1.5 times of the real contact resistance. Therefore, it is proven that contact resistance can be practically calculated using the apparent contact area instead of the real contact area. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Electrical contact / constriction resistance / real contact area / numerical analysis |
| 資料番号 | EMD2009-72 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2009/11/12(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Constriction resistance analysis of multi-contact spots |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Electrical contact |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Shigeru SAWADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Graduate School of Engineering, Mie University |
| 発表年月日 | 2009-11-19 |
| 資料番号 | EMD2009-72 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 287 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |