講演名 2009-07-23
液晶ディスプレイの残像現象に影響する不純物イオンの解析
水崎 真伸, 宮下 哲哉, 内田 龍男, 山田 祐一郎,
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抄録(和) 液晶ディスプレイには、残像の発生により画質の低下が生じる場合がある。残像は、液晶パネル内にイオン性の不純物が存在することにより発生する残留DC電圧に関わると考えられる。このため、残留DC電圧の発生原理を明確にし、その評価方法を確立することは重要な課題である。本研究では残留DC電圧の発生を、液晶層と配向膜の界面へのイオンの吸着と離脱のモデルを用いて明らかにした。その結果から、イオンの界面への吸着速度定数及び界面からの離脱速度定数を用いることによって、残留DC電圧の正確な評価方法を提案した。
抄録(英) Image sticking can be observed in some case and it degrades the image quality of liquid crystal (LC) display. The image sticking is considerd to be induced by generation of residual DC voltage (V_), which would be caused by the presence of ion in a LC cell. We clarified the generation mechanism of V_ based on a model of adsorption and desorption of the ion to and from the interface between LC and alignment layer. The accurate measurement method of V_ is proposed base on the adsorption and desorption rate constants at the surface.
キーワード(和) 液晶ディスプレイ / 残像 / 残留DC電圧 / イオン
キーワード(英) Liquid crystal display / Image sticking / Residual DC voltage / Ion
資料番号 EID2009-15
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 2009/7/16(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 液晶ディスプレイの残像現象に影響する不純物イオンの解析
サブタイトル(和)
タイトル(英) Analysis of Impurity Ion Affecting Image Sticking Effect on Liquid Crystal Display
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 液晶ディスプレイ / Liquid crystal display
キーワード(2)(和/英) 残像 / Image sticking
キーワード(3)(和/英) 残留DC電圧 / Residual DC voltage
キーワード(4)(和/英) イオン / Ion
第 1 著者 氏名(和/英) 水崎 真伸 / Masanobu MIZUSAKI
第 1 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科:シャープ株式会社研究開発本部
Department of Electronics, Graduate school of Engineering, Tohoku University:Corporate Research and Development Group, SHARP Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 宮下 哲哉 / Tetsuya MIYASHITA
第 2 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科
Department of Electronics, Graduate school of Engineering, Tohoku University
第 3 著者 氏名(和/英) 内田 龍男 / Tatsuo UCHIDA
第 3 著者 所属(和/英) 東北大学大学院工学研究科
Department of Electronics, Graduate school of Engineering, Tohoku University
第 4 著者 氏名(和/英) 山田 祐一郎 / Yuichiro YAMADA
第 4 著者 所属(和/英) シャープ株式会社研究開発本部
Corporate Research and Development Group, SHARP Corporation
発表年月日 2009-07-23
資料番号 EID2009-15
巻番号(vol) vol.109
号番号(no) 146
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日