| 講演名 | 2009-07-17 ワイブル分布関数を利用した接触抵抗データ解析の試み 長谷川 誠, |
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| 抄録(和) | 接触抵抗測定データの詳細な解析に活用する目的で、ワイブル分布関数による接触抵抗データのあてはめを試みている。その目的のために、オリジナルのワイブル近似プログラムを作成して、いくつかの測定データセットに適用した。その結果、良好なあてはめが実現できたときには、2つのワイブルパラメータ、すなわち位置パラメータと尺度パラメータの和が、その区間の接触抵抗データの平均値に近くなる傾向を確認できた。また、形状パラメータの値に負荷電流値による相違が認められた。これらの特徴は、接触抵抗データ解析の有効なツールになり得ると考えられる。その一方で、接触抵抗データの分布状況によっては十分なあてはめが実現できないことがあり、接触抵抗測定値の度数分布データの作成方法の改良、あてはめ区間の区分などの改良が必要になる。 |
| 抄録(英) | In order to realize detailed analysis of measured contact resistance data, fitting of Weibull distribution function to contact resistance data is being tried. For that purpose, the original Weibull fitting software has been prepared, and applied to some sets of the measured data. When successful fitting results were obtained, the sum of two Weibull parameters, i.e., the location parameter Ro and the scale parameter Ra, became close to the average value of the contact resistance data. In addition, values of the scale parameter m showed certain differences for the data obtained with different load current values. These tendencies can be effectively utilized for analysis of contact resistance data. However, more revisions to the fitting algorithm are still required for realizing further study of contact resistance characteristics through the Weibull fitting analysis. Specifically, certain modifications are required in providing distribution of the measured contact resistances. The fitting procedures are also required to be improved in order to appropriately handle with a mixed mode distribution of data. |
| キーワード(和) | 接触抵抗 / ワイブル分布関数 / 接点表面 / アーク放電 / 接触障害 |
| キーワード(英) | Contact resistance / Weibull distribution function / Contact surface / Arc discharge / Contact failure |
| 資料番号 | EMD2009-25 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2009/7/10(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ワイブル分布関数を利用した接触抵抗データ解析の試み |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An experimental study on analysis of contact resistance data with Weibull distribution function |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 接触抵抗 / Contact resistance |
| キーワード(2)（和/英） | ワイブル分布関数 / Weibull distribution function |
| キーワード(3)（和/英） | 接点表面 / Contact surface |
| キーワード(4)（和/英） | アーク放電 / Arc discharge |
| キーワード(5)（和/英） | 接触障害 / Contact failure |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 長谷川 誠 / Makoto HASEGAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科 Chitose Institute of Science and Technology |
| 発表年月日 | 2009-07-17 |
| 資料番号 | EMD2009-25 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 138 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |