| 講演名 | 2009-07-31 修復を考慮したダイナミックFTの頂上事象生起確率について 弓削 哲史, 田村 信幸, 柳 繁, |
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| 抄録(和) | 優先ANDゲートはダイナミック・フォルトツリーの代表的な論理ゲートである.本報告では優先ANDゲートを含む修復系FTを取り上げる.この解析には従来マルコフ解析が用いられてきたが,基本事象数が増加すると状態数が爆発的に多くなり解析が困難になるという問題点があった.また,これまでの研究により,優先ANDゲートへの入力事象にORゲートがある場合は,マルコフ解析において遷移行列作成に注意が必要であることが指摘されている.これら解析上の問題点を説明し,定常状態におけるFTの頂上事象生起確率を算出する方法について述べる.またマルコフ解析によらない解析方法を2種類紹介し,これらの方法が適用できる範囲について述べる. |
| 抄録(英) | A priority AND gate is a representative logic gate of dynamic fault trees. This paper deals with a repairable dynamic FT, where all the basic events are repaired after the occurrence. Markov analysis is usually adopted for the analysis of a repairable dynamic FT. The difficulty of the method is mainly due to the explosion of the number of states to be considered in the analysis. Another problem is the difficulty to construct the state transition matrix when an OR gate is connected to the input of a priority AND gate. We explain the problems at first. Then we introduce two methods to obtain the steady state top event probability. The proposed methods are an Inclusion-Exclusion based method and a method to enumerate the disjoint cut sequences. These methods are more efficient compared to the conventional Markov approach. However, there are some FTs that the exact top event probability can not be derived by these methods. We discuss the applicability of the methods. |
| キーワード(和) | ダイナミック・フォルトツリー / 優先ANDゲート / 最小カット集合 / マルコフ解析 |
| キーワード(英) | dynamic fault tree / priority AND gate / minimal cut sequence / Markov analysis |
| 資料番号 | R2009-31 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2009/7/24(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 修復を考慮したダイナミックFTの頂上事象生起確率について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Top Event Probability of a Repairable Dynamic FT |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ダイナミック・フォルトツリー / dynamic fault tree |
| キーワード(2)（和/英） | 優先ANDゲート / priority AND gate |
| キーワード(3)（和/英） | 最小カット集合 / minimal cut sequence |
| キーワード(4)（和/英） | マルコフ解析 / Markov analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 弓削 哲史 / Tetsushi YUGE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 防衛大学校電気電子工学科 Dept. of Electrical and Electronic Engineering, National Defense Academy |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 田村 信幸 / Nobuyuki TAMURA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 防衛大学校電気電子工学科 Dept. of Electrical and Electronic Engineering, National Defense Academy |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 柳 繁 / Shigeru YANAGI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 防衛大学校電気電子工学科 Dept. of Electrical and Electronic Engineering, National Defense Academy |
| 発表年月日 | 2009-07-31 |
| 資料番号 | R2009-31 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 161 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |