講演名 2009-07-02
不揮発性体積型ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性(信号処理,LSI及び一般)
間渕 隆之, 宮城 賢二, 渡邊 実, 荻原 昭文,
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抄録(和) 我々は従来のLSI技術に光メモリ技術を組み合わせることで高速に演算を行うダイナミック光再構成型ゲートアレイ(ORGA:Otipcally Reconfigurable Gate Array)の研究開発を進めている.光再構成型ゲートアレイはレーザアレイ,ホログラムメモリ,ゲートアレイVLSIの3つの要素で構成され,ホログラムメモリから完全並列に再構成コンテキストを読み出すことにより,高速な再構成が可能である.このデバイスは構造上,高い不良耐性を持つため,我々は宇宙分野への応用に関しても研究を進めている.今回は不揮発性体積型液晶ホログラムメモリを導入したダイナミック光再構成型ゲートアレイの不良耐性に関する研究結果を報告する.
抄録(英) Optically Reconfigurable Gate Arrays (ORGAs) consist of a gate array VLSI, a holographic memory, and a laser array. ORGA can achieve rapid reconfiguration by exploiting optical parallel connections. Moreover, such parallel connections, allow to realize high defect tolerance. This paper presents fault tolerance of a dynamic optically reconfigurable gate array using a non-volatile volume holographic memory.
キーワード(和) 光再構成型ゲートアレイ / ホログラムメモリ
キーワード(英) Optically Reconfigurable Gate Arrays (ORGAs) / Holographic memory / defect tolerance
資料番号 CAS2009-20,VLD2009-25,SIP2009-37
発行日

研究会情報
研究会 SIP
開催期間 2009/6/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Signal Processing (SIP)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 不揮発性体積型ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性(信号処理,LSI及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Fault tolerance of a dynamic optically reconfigurable gate array using a non-volatile volume holographic memory
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 光再構成型ゲートアレイ / Optically Reconfigurable Gate Arrays (ORGAs)
キーワード(2)(和/英) ホログラムメモリ / Holographic memory
第 1 著者 氏名(和/英) 間渕 隆之 / Takayuki MABUCHI
第 1 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 2 著者 氏名(和/英) 宮城 賢二 / Kenji MIYAGI
第 2 著者 所属(和/英) 国立高松工業高等専門学校
Takamatsu National College of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 渡邊 実 / Minoru WATANABE
第 3 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 4 著者 氏名(和/英) 荻原 昭文 / Akihumi OGIWARA
第 4 著者 所属(和/英) 神戸市立工業高等専門学校
Kobe City College of Technology
発表年月日 2009-07-02
資料番号 CAS2009-20,VLD2009-25,SIP2009-37
巻番号(vol) vol.109
号番号(no) 112
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日