講演名 | 2009-07-02 2系列ナップザック暗号と1系列ナップザック暗号の低密度攻撃に対する耐性の差について(その2)(セキュリティ関係,一般) 名迫 健, 村上 恭通, 笠原 正雄, |
---|---|
PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
抄録(和) | 筆者らは2009年3月のISEC研究会において,超増加性をトラップドアとする同一の秘密鍵を用いて,2系列ナップザック暗号および1系列ナップザック暗号を構成し,それぞれに対して低密度攻撃を行った結果,両者の耐性の差がほとんどないことを報告した.本稿では,超増加性および偶奇性をトラップドアに用いた場合のそれぞれについて,2種の秘密鍵の構成法を用いたときの2系列ナップザック暗号と1系列ナップザック暗号の低密度攻撃に対する耐性の評価を行う. |
抄録(英) | In ISEC March 2009, we reported that there are less security gap against the low-density attack between the double-sequence knapsack PKC and the single-sequence knapsack PKC which use a super-increasing sequence as the trapdoor. In this paper, we study on the security gap against the low-density attack between the double-sequence knapsack PKC and the single-sequence knapsack PKC when using a super-increasing sequence and shifted-odd sequence as the trapdoor, respectively. Moreover, we study on the security gap between the double-sequence knapsack PKC and the single-sequence knapsack PKC when using two types of constructions of the secret key. |
キーワード(和) | 公開鍵暗号 / ナップザック型公開鍵暗号 / 超増加性 / 偶奇性 / 低密度攻撃 / 計算機実験 |
キーワード(英) | public-key cryptosystem / knapsack type cryptosystem / super-increasing sequences / shifted-odd sequences / low-density attack / computer experiment |
資料番号 | ISEC2009-16,SITE2009-8,ICSS2009-30 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SITE |
---|---|
開催期間 | 2009/6/25(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
委員長氏名(英) | |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Social Implications of Technology and Information Ethics (SITE) |
---|---|
本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 2系列ナップザック暗号と1系列ナップザック暗号の低密度攻撃に対する耐性の差について(その2)(セキュリティ関係,一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Security Gap between Double-Sequence Knapsack PKC and Single-Sequence Knapsack PKC against Low-Density Attack (Part 2) |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 公開鍵暗号 / public-key cryptosystem |
キーワード(2)(和/英) | ナップザック型公開鍵暗号 / knapsack type cryptosystem |
キーワード(3)(和/英) | 超増加性 / super-increasing sequences |
キーワード(4)(和/英) | 偶奇性 / shifted-odd sequences |
キーワード(5)(和/英) | 低密度攻撃 / low-density attack |
キーワード(6)(和/英) | 計算機実験 / computer experiment |
第 1 著者 氏名(和/英) | 名迫 健 / Takeshi NASAKO |
第 1 著者 所属(和/英) | 大阪電気通信大学 Osaka Electro-Communication University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 村上 恭通 / Yasuyuki MURAKAMI |
第 2 著者 所属(和/英) | 大阪電気通信大学 Osaka Electro-Communication University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 笠原 正雄 / Masao KASAHARA |
第 3 著者 所属(和/英) | 大阪学院大学 Osaka Gakuin University |
発表年月日 | 2009-07-02 |
資料番号 | ISEC2009-16,SITE2009-8,ICSS2009-30 |
巻番号(vol) | vol.109 |
号番号(no) | 114 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 7 |
発行日 |