| 講演名 | 2009-07-31 フィールドデータを活用した給電信頼度算出システムの開発について(エネルギー技術,半導体変換技術,一般) 津村 哲史, 村井 秀幸, 廣瀬 圭一, 山崎 幹夫, |
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| 抄録(和) | 近年,高度情報化社会が急速に進展しており,その社会インフラを支えるIT機器の役割が重要視されている.そのIT機器への電力供給は無停電・無瞬断が要求されており,地域毎に異なる電力系統の品質把握及びそのバックアップ電源として設置される非常用発電装置・無停電電源装置等の故障リスク分析は非常に重要である.このような理由から,全国約8,000の通信ビルにおける停電情報や,それらビル内に設置された約20万の電源装置から収集した装置の故障・復旧時間のフィールドデータを基に,給電信頼度データベースを構築した.このデータベースを用いることで,停電事故に関する年次,季節毎の傾向や地域特性の把握,及び装置の種類・容量規模等ごとの給電システムの信頼度評価を可能するシステムを開発したので,それらの概要について報告する. |
| 抄録(英) | Recently, our highly networked information society has progressed rapidly. Therefore, no failures and uninterrupted power are necessary for IT power supply. Accordingly, an uninterruptible power supply (UPS) and standby generators are usually set up along side the commercial power supply. When designing these compensating power supply systems, considering the reliability of the power supply with the initial cost and space, which depends on composition of systems, is desirable. So, we developed a new system to accurately analysis the reliability of the power supply. The system uses field data (such as power outages, voltage dips and device failure) collected from more than 200,000 power plants installed in about 8,000 bldg. throughout Japan. |
| キーワード(和) | 給電信頼度 / 電力品質 / フィールドデータ |
| キーワード(英) | Power supply reliability / Power quality / Field data |
| 資料番号 | EE2009-16 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EE |
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| 開催期間 | 2009/7/23(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Energy Engineering in Electronics and Communications (EE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | フィールドデータを活用した給電信頼度算出システムの開発について(エネルギー技術,半導体変換技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of a Calculating System for Power Supply Reliability Using Field Data in Japan |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 給電信頼度 / Power supply reliability |
| キーワード(2)（和/英） | 電力品質 / Power quality |
| キーワード(3)（和/英） | フィールドデータ / Field data |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 津村 哲史 / Tetsushi TSUMURA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社NTTファシリティーズ研究開発本部 R & D Headquarters, NTT FACILITIES, Inc. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 村井 秀幸 / Hideyuki MURAI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社NTTファシリティーズ研究開発本部 R & D Headquarters, NTT FACILITIES, Inc. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 廣瀬 圭一 / Keiichi HIROSE |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社NTTファシリティーズ研究開発本部 R & D Headquarters, NTT FACILITIES, Inc. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 山崎 幹夫 / Mikio YAMASAKI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社NTTファシリティーズ研究開発本部 R & D Headquarters, NTT FACILITIES, Inc. |
| 発表年月日 | 2009-07-31 |
| 資料番号 | EE2009-16 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 156 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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