講演名 | 2009-06-19 AFM探針スクラッチナノ加工による強磁性パターン薄膜の狭窄化(材料デバイスサマーミーティング) 菅沼 秀教, チャン キョンミン, 山田 努, 竹村 泰司, |
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抄録(和) | 本研究は、原子間力顕微鏡(AFM:atomic force microscope)によるダイレクト・スクラッチ加工技術を用いて、強磁性細線に狭窄化を施すことによってナノ接合部を作製し、特異な電流電圧特性や磁気抵抗効果を観測することを目的とした。ここでは、NiFe薄膜に対するAFMスクラッチリソグラフィを、カンチレバーの加重、走査速度、走査回数を変化させて行い、加工具合がそれぞれのパラメータにどのように依存しているか観測した。そして、実際にAFMスクラッチ加工を利用してNiFeパターン細線に狭窄化を施したところ、接合幅139nm、断面積3.0×10^2nm^2のナノ接合部の作製に成功した。 |
抄録(英) | The purpose of this study is to fabricate nano-contacts on ferromagnetic patterned thin film by nanolithography technique using atomic force microscope (AFM) and to observe attractive current-voltage and magnetoresistance characteristics. Direct scratch lithography was performed on NiFe thin films using AFM cantilever with various parameters of cantilever force, speed and count of scans. The nano-contact of 139nm width and 3.0×10^2nm^2 cross sectional area was successfully fabricated. |
キーワード(和) | Atomic force microscope / ferromagnetic thin film / nanolithography / nano-junction |
キーワード(英) | Atomic force microscope / ferromagnetic thin film / nanolithography / nano-junction |
資料番号 | EMD2009-15,CPM2009-27,OME2009-22 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | OME |
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開催期間 | 2009/6/12(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | AFM探針スクラッチナノ加工による強磁性パターン薄膜の狭窄化(材料デバイスサマーミーティング) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Constriction of Ferromagnetic Patterned Thin Film by Nano Scratching using AFM cantilever |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | Atomic force microscope / Atomic force microscope |
キーワード(2)(和/英) | ferromagnetic thin film / ferromagnetic thin film |
キーワード(3)(和/英) | nanolithography / nanolithography |
キーワード(4)(和/英) | nano-junction / nano-junction |
第 1 著者 氏名(和/英) | 菅沼 秀教 / Hidenori SUGANUMA |
第 1 著者 所属(和/英) | 横浜国立大学 Yokohama National University |
第 2 著者 氏名(和/英) | チャン キョンミン / Kyungmin JANG |
第 2 著者 所属(和/英) | 横浜国立大学 Yokohama National University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 山田 努 / Tsutomu YAMADA |
第 3 著者 所属(和/英) | 横浜国立大学 Yokohama National University |
第 4 著者 氏名(和/英) | 竹村 泰司 / Yasushi TAKEMURA |
第 4 著者 所属(和/英) | 横浜国立大学 Yokohama National University |
発表年月日 | 2009-06-19 |
資料番号 | EMD2009-15,CPM2009-27,OME2009-22 |
巻番号(vol) | vol.109 |
号番号(no) | 91 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |