| 講演名 | 2009-06-24 Current Controlled MOS Current Mode Logic with Auto-detection of Threshold Voltage Fluctuation , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | A Current Controlled (CC-) MOS Current Mode Logic (MCML) circuit based on auto-detection of threshold voltage (Vth) fluctuation is proposed. This proposed circuit suppresses the degradation of circuit performance induced by the Vth fluctuations of the transistors automatically, by detecting the Vth fluctuations of the transistor. When the Vth fluctuation over ±0.1V occurs on the pair transistors of the circuit, the minimum value of the dc gain is increased by about 111 times by using the proposed circuit. Furthermore, it is shown that the maximum operating frequency of the circuit is increased from 0GHz to 24.8GHz when the Vth fluctuation of ±0.1V occurs in the transistors of the circuit, by using the proposed new circuit technology. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | MCML / Vth / Threshold Voltage Fluctuation / MOSFET |
| 資料番号 | ED2009-55,SDM2009-50 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
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| 開催期間 | 2009/6/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Current Controlled MOS Current Mode Logic with Auto-detection of Threshold Voltage Fluctuation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / MCML |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Tetsuo Endoh |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Center for Interdisciplinary Research, TOHOKU UNIVERSITY |
| 発表年月日 | 2009-06-24 |
| 資料番号 | ED2009-55,SDM2009-50 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 97 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |