| 講演名 | 2009-06-24 Analysis on the Behavior of a Low Voltage Triggered SCR ESD Clamp Circuit in Comparison between the Standard Transmission Line Pulse System and the Very Fast Transmission Line Pulse System , |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | We reported the characterization and the behavior of a Low Voltage Triggered SCR (LVTSCR) with vf-TLP (very-fast Transmission Line Pulse) measurements. The vf-TLP measured results showed that the triggering voltage (Vt1) decreased and the second breakdown current (It2) increased in the comparison with the standard 100ns TLP system. A series of experiments proved that it comes from the dV/dt effect and the power-to-failure versus pulse width relationship. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Electrostatic discharge (ESD) / Charged Device Model (CDM) / very-fast TLP testing / Low Voltage Triggered SCR (LVTSCR) |
| 資料番号 | ED2009-54,SDM2009-49 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
|---|---|
| 開催期間 | 2009/6/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
|---|---|
| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis on the Behavior of a Low Voltage Triggered SCR ESD Clamp Circuit in Comparison between the Standard Transmission Line Pulse System and the Very Fast Transmission Line Pulse System |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Electrostatic discharge (ESD) |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Jae-Young PARK |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Device Engineering Team, Technical Engineering Center |
| 発表年月日 | 2009-06-24 |
| 資料番号 | ED2009-54,SDM2009-49 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 97 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |