| 講演名 | 2009-06-19 高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証) 野口 宏一朗, 野瀬 浩一, 尾野 年信, 水野 正之, |
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| 抄録(和) | プロセス技術の微細化・チップの高集積化に伴い微小遅延故障がチップの信頼性を下げる大きな要因の一つになっている。我々はこれらの遅延故障を選別するために遅延統計を利用した微小遅延故障検出技術を提案し、そのための回路技術を開発してきた。本稿では、テストのために従来各FFに集積していたレジスタを複数のFFで共有することで回路面積を削減する技術を提案する。この手法により回路面積の10%削減を実現した。 |
| 抄録(英) | As continuous process scaling produces large-scale chips, small-delay defects become one of the major chip-reliability limiters. Small-delay defect detection techniques for LSI screening have been developed, which can successfully detect outlier chips among normally-distributed chips using a self-testing scan-FF. In this paper, Area reduction technique is proposed. As a result, we realized 10% chip area reduction by sharing a part of functions of self-testing FF among the some scan-FF. |
| キーワード(和) | Delay defect / Test / Screening / Scan-FF |
| キーワード(英) | Delay defect / Test / Screening / Scan-FF |
| 資料番号 | DC2009-16 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2009/6/12(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Area Reduction Technique of Self-testing FFs for Small-delay Defects Detection |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Delay defect / Delay defect |
| キーワード(2)（和/英） | Test / Test |
| キーワード(3)（和/英） | Screening / Screening |
| キーワード(4)（和/英） | Scan-FF / Scan-FF |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 野口 宏一朗 / Koichiro NOGUCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NECデバイスプラットフォーム研究所 Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 野瀬 浩一 / Koichi NOSE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NECデバイスプラットフォーム研究所 Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 尾野 年信 / Toshinobu ONO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NECエレクトロニクス設計技術開発部 Design Engineering Development Division, NEC Electronics Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 水野 正之 / Masayuki MIZUNO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | NECデバイスプラットフォーム研究所 Device Platforms Research Laboratories, NEC Corporation |
| 発表年月日 | 2009-06-19 |
| 資料番号 | DC2009-16 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 95 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |