講演名 2009-06-19
High-level Design for Test Tools & Industrial Design Flows
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抄録(和)
抄録(英) Design for Testability at Register Transfer Level has been widely explored by academia. Commercial tools start to be considered in industrial design flows. This talk presents the current status of using RTL DFT solutions in industry with a tentative forecast of the future.
キーワード(和)
キーワード(英) RTL descriptions / Verilog / VHDL / Testability analysis / DFT methodologies & techniques
資料番号 DC2009-14
発行日

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2009/6/12(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Dependable Computing (DC)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) High-level Design for Test Tools & Industrial Design Flows
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / RTL descriptions
第 1 著者 氏名(和/英) / Chouki AKTOUF
第 1 著者 所属(和/英)
DeFacTo Technologies
発表年月日 2009-06-19
資料番号 DC2009-14
巻番号(vol) vol.109
号番号(no) 95
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日