| 講演名 | 2009-06-19 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証) 出水 伸和, 吉川 祐樹, 市原 英行, 井上 智生, |
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| 抄録(和) | 回路に故障が存在しても出力に重大な影響を与えない故障を許容故障という.許容故障を考慮した16値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムが提案されている.このアルゴリズムでは,16値論理を用いているため,故障の誤りの大きさの上界と下界を高い精度で計算することができるものの,外部入力への1つの値の割当てから行う含意操作の計算量は大きい.本論文では,閾値テスト生成の高速化を目的とした5値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムを提案する.5値論理は,16値論理に比べて外部入力値の割当てから行う含意操作の計算量が小さいため,閾値テスト生成の高速化が期待できる.5値論理を用いて,小さい計算量でできるだけ高い精度で誤りの上界と下界を求めるために,提案手法ではXパス検査の結果を利用する.ISCAS'85ベンチマークを用いた実験結果から,16値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムに比べて,提案手法は短時間で閾値テストパターンを生成可能であることを示す. |
| 抄録(英) | If the existence of a fault in a circuit only causes negligible effect on its application, the fault is said to be acceptable. A method for generating test patterns of unacceptable faults for a given threshold has been presented. The test generation algorithm in the method works based on 16-valued logic, and hence it can tightly evaluate the upper and lower bounds of errors, whereas it may require large computational effort for the implication from every assignment at primary inputs. In this paper, we propose a new threshold test generation algorithm based on 5-valued logic instead of 16-valued one. In order to estimate the upper and lower bounds of errors as tight as possible with small computational effort, the algorithm utilizes the result of X-path checking, which is an essential procedure in the original PODEM, to the error estimation. Experimental results show that the proposed algorithm can generate threshold test patterns with small computational time compared with that based on 16-valued logic. |
| キーワード(和) | 許容故障 / 閾値テスト生成 / 誤りの深刻さ / PODEM / 5値論理 |
| キーワード(英) | Acceptable faults / threshold test generation / error significance / PODEM / 5-valued logic |
| 資料番号 | DC2009-12 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2009/6/12(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Generation Algorithm Based on 5-valued Logic for Threshold Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 許容故障 / Acceptable faults |
| キーワード(2)（和/英） | 閾値テスト生成 / threshold test generation |
| キーワード(3)（和/英） | 誤りの深刻さ / error significance |
| キーワード(4)（和/英） | PODEM / PODEM |
| キーワード(5)（和/英） | 5値論理 / 5-valued logic |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 出水 伸和 / Nobukazu IZUMI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉川 祐樹 / Yuki YOSHIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 市原 英行 / Hideyuki ICHIHARA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 井上 智生 / Tomoo INOUE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 発表年月日 | 2009-06-19 |
| 資料番号 | DC2009-12 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 95 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |