講演名 2009-03-10
グラフを組み合わせたLDPC符号アンサンブルに対する最小スパンの解析(情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会)
石川 祐臣, 佐藤 芳行, 細谷 剛, 平澤 茂一,
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抄録(和) 低密度パリティ検査(LDPC)符号とbelief-propagation(BP)復号法の組み合わせは高い復号性能を示すことが知られている.現在LDPC符号は高速無線・有線通信,磁気録音機器等における誤り訂正法として考えられている.従来研究ではバースト消失に対する訂正能力を評価するために,符号アンサンブルに対して解析を行なっている.まずLDPC符号のストッピングセットを用いて最小スパンの解析を行ない,次に訂正可能なバースト消失の比率を表す臨界最小スパン比率の計算を行なう.本研究では最小ストッピングセットを考慮することで,より精密な臨界最小スパン比率を導出する方法を提案し,バースト消失に対して高い訂正能力を持つと言われている,タナーグラフを組み合わせたLRタナーグラフアンサンブルにおいて,最小スパンの漸近的解析を行なう.
抄録(英) The combination of the low-density parity-check (LDPC) code and the belif-propagation (BP) decoding algorithm exhibits a good decoding performance. Now error correction via LDPC code is applied for high speed wireless channel, wired channel and magnetic recording systems. To evaluate the correcting capability for burst erasure, analysis for the LDPC code ensemble has been employed. First, this analytical method evaluates the minimum span of the stopping set, and then, calculate the critical minimum span rate which expresses the rate of the correctable burst erasure for the code length. In this paper, we formulate more accurate critical minimum span rate by using minimum stopping set for the standard Tanner graph ensemble. We then apply it to evaluate the critical minimum span rate for the LR Tanner graph ensemble, which is a combined graph ensemble with a good correcting capability for burst erasure.
キーワード(和) LDPC符号 / ストッピングセット / 最小スパン / LRタナーグラフアンサンブル
キーワード(英) low-density parity-check code / stopping set / minimum span / LR Tanner graph ensemble
資料番号 IT2008-109,ISEC2008-167,WBS2008-122
発行日

研究会情報
研究会 WBS
開催期間 2009/3/2(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Wideband System(WBS)
本文の言語 JPN
タイトル(和) グラフを組み合わせたLDPC符号アンサンブルに対する最小スパンの解析(情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Minimum span analysis for a combined graph ensemble of low-density parity-check codes
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) LDPC符号 / low-density parity-check code
キーワード(2)(和/英) ストッピングセット / stopping set
キーワード(3)(和/英) 最小スパン / minimum span
キーワード(4)(和/英) LRタナーグラフアンサンブル / LR Tanner graph ensemble
第 1 著者 氏名(和/英) 石川 祐臣 / Yujin ISHIKAWA
第 1 著者 所属(和/英) 早稲田大学理工学部経営システム工学科
Department of Industrial and Management Systems Engineering, School of Science and Engineering, Waseda University
第 2 著者 氏名(和/英) 佐藤 芳行 / Yoshiyuki SATO
第 2 著者 所属(和/英) 早稲田大学大学院創造理工学研究科経営システム工学専攻
Major in Industrial and Management Systems Engineering, Graduate School of Creative Science and Engineering, Waseda University
第 3 著者 氏名(和/英) 細谷 剛 / Gou HOSOYA
第 3 著者 所属(和/英) 早稲田大学理工学術院創造理工学部経営システム工学科
Department of Industrial and Management Systems Engineering, School of Creative Science and Engineering, Faculty of Science and Engineering, Waseda University
第 4 著者 氏名(和/英) 平澤 茂一 / Shigeichi HIRASAWA
第 4 著者 所属(和/英) 早稲田大学理工学術院創造理工学部経営システム工学科
Department of Industrial and Management Systems Engineering, School of Creative Science and Engineering, Faculty of Science and Engineering, Waseda University
発表年月日 2009-03-10
資料番号 IT2008-109,ISEC2008-167,WBS2008-122
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 474
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日