講演名 2009-05-15
MOVPE法によるSi基板上GaPの高温成長(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
高木 達也, 岡本 拓也, 福家 俊郎, 高野 泰,
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抄録(和) 有機金属気相成長(MOVPE)法によりSi基板上にGaP成長を行っている。700℃と800℃では鏡面を得ることはできなかったが、高いPH_3流量を持った830℃で鏡面が得られた。またクロスハッチパターン(CHP)は830℃での膜厚200nmの成長によって得られた。CHPはGaP層の質が高いことを示す。断面TEMにより5nmと40nm厚さのGaP層に積層欠陥と転位が存在しないことを明らかにした。
抄録(英) GaP was grown on misoriented Si substrates using metalorganic vapor phase epitaxy (MOVPE). At 700 and 800℃, no mirror suface was obtained. A mirror suface was achieved at 830℃ with a high PH_3 flow rate. A cross-hatched pattern (CHP) was observed for a 200-nm-thick GaP layer grown at 830℃. The CHP indicates that the quality of the GaP layer was high. Cross-sectional transmission electron microscopy reveals that few stacking faults and dislocations exist in 5-and 40-nm-thick GaP layers on Si substrates.
キーワード(和) MOVPE / ガリウムリン / クロスハッチパターン / 透過型電子顕微鏡
キーワード(英) MOVPE / GaP / CHP / TEM
資料番号 ED2009-29,CPM2009-19,SDM2009-19
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2009/5/7(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) MOVPE法によるSi基板上GaPの高温成長(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
サブタイトル(和)
タイトル(英) Growth of GaP on Si Substrates at High Temperature by MOVPE
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) MOVPE / MOVPE
キーワード(2)(和/英) ガリウムリン / GaP
キーワード(3)(和/英) クロスハッチパターン / CHP
キーワード(4)(和/英) 透過型電子顕微鏡 / TEM
第 1 著者 氏名(和/英) 高木 達也 / Tatsuya TAKAGI
第 1 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 2 著者 氏名(和/英) 岡本 拓也 / Takuya OKAMOTO
第 2 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 3 著者 氏名(和/英) 福家 俊郎 / Shunro FUKE
第 3 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 4 著者 氏名(和/英) 高野 泰 / Yasushi TAKANO
第 4 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
発表年月日 2009-05-15
資料番号 ED2009-29,CPM2009-19,SDM2009-19
巻番号(vol) vol.109
号番号(no) 23
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日