| 講演名 | 2009-04-21 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般) 深澤 祐樹, 吉川 祐樹, 市原 英行, 井上 智生, |
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| 抄録(和) | 組込み自己テスト(BIST)手法において,テスト生成器や応答圧縮器などのBIST回路が故障すると被テスト回路のテストを適切に行えない可能性があり,歩留まりの低下や,市場不良の影響が懸念される.本研究では,BIST回路の同時テスト可能性(BIST回路を用いた被テスト回路(CUT)のテスト時にBIST回路も同時にテスト可能であること)に着目し,同時テスト可能な応答圧縮器である符号化応答圧縮器を提案する.さらに反復符号と巡回符号を用いた符号化応答圧縮器の設計手順とその能力を示す.実験では符号化応答圧縮器の同時テスト可能性と面積オーバヘッドの関係を明らかにする. |
| 抄録(英) | In the BIST (Built-in self-test) scheme, the occurrence of faults in BIST circuits, e.g., test generators and response compactors, causes unreliable testing of chips, so that it results in filed defects of the chips and yield loss. In this study, we focus on a concurrent testability of BIST circuits. Testing a circuit-under-test (CUT), a concurrently testable BIST circuit can test itself, and distinguish the faults in the BIST circuits from those in the CUT based on an obtained signature. We propose a concurrently testable response compactor, called a coding response compactor, and present two instances of coding response compactors, which are based on repetition codes and cyclic codes. Experimental results show the relationship between the concurrently testability and area overhead for the proposed coding response compactors. |
| キーワード(和) | 組込み自己テスト / 応答圧縮器 / 符号化 / 同時テスト |
| キーワード(英) | Built-in self-test / MISR compactor / coding / concurrent test |
| 資料番号 | CPSY2009-7,DC2009-7 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2009/4/14(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A design of testable response analyzers in built-in self-test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-in self-test |
| キーワード(2)（和/英） | 応答圧縮器 / MISR compactor |
| キーワード(3)（和/英） | 符号化 / coding |
| キーワード(4)（和/英） | 同時テスト / concurrent test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 深澤 祐樹 / Yuki FUKAZAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉川 祐樹 / Yuki YOSHIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 市原 英行 / Hideyuki ICHIHARA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 井上 智生 / Tomoo INOUE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 発表年月日 | 2009-04-21 |
| 資料番号 | CPSY2009-7,DC2009-7 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | 12 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |