講演名 2009-05-20
テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法(システムレベル設計,システム設計及び一般)
小河 宏志, 吉村 正義, 細川 利典, 山崎 浩二,
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抄録(和) LSIの製造歩留まり向上策の一つとして過剰テストが重要となってきている.過剰テストの抑制策のひとつとして,テスト不可能故障を検出しないことがある.スキャン設計された回路では,スキャンチェーンを利用したシフト動作によって,無効状態に遷移させることができる.テスト不可能故障は無効状態からのみ検出される.そこで本論文では,マルチサイクルキャプチャテストを用いたテスト不可能故障の検出数を少なくするテストパタン生成方法を手案する.提案手法はκサイクルキャプチャテストパタン生成,テストパタン切り出し,故障シミュレーションとテストパタン選択から構成されている.故障シミュレーションによって,個々のテストパタンごとにテスト不能故障数の検出数を求めることによって,テストパタン集合全体のテスト不能故障の検出数の削減を行う.
抄録(英) There are faults which can be detected by only the invalid test patterns. This is one of the causes for the overtesting. Overtesting occurs that faults on a chip are detected under invalid states using scan chains. However it is difficult to find all invalid states based on circuit structures. On the other hand, untestable faults identification can be used sequential ATPG based on time expansion models. The our proposed method is composed of generating multi cycle capture test patterns, identifying untestable faults and extracting single cycle capture patterns from multi cycle capture sequences to reduce the number of detection for untestable faults.
キーワード(和) テスト不能故障 / κサイクルキャプチャテストパタン生成 / スキャン設計 / 時間展開モデル
キーワード(英) untestable fault / κ cycle capture test pattern generation / scan design / time expansion model
資料番号 VLD2009-3
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2009/5/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法(システムレベル設計,システム設計及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A scan test generation method to reduce the number of detected untestable faults
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) テスト不能故障 / untestable fault
キーワード(2)(和/英) κサイクルキャプチャテストパタン生成 / κ cycle capture test pattern generation
キーワード(3)(和/英) スキャン設計 / scan design
キーワード(4)(和/英) 時間展開モデル / time expansion model
第 1 著者 氏名(和/英) 小河 宏志 / Hiroshi OGAWA
第 1 著者 所属(和/英) 日本大学大学院生産工学研究科
Graduate School of Industrial Technology, Nihon University
第 2 著者 氏名(和/英) 吉村 正義 / Masayoshi YOSHIMURA
第 2 著者 所属(和/英) 九州大学大学院システム情報科学研究院
Graduate School of Infomation Science and Electrical Engineering, Kyushu University
第 3 著者 氏名(和/英) 細川 利典 / Toshinori HOSOKAWA
第 3 著者 所属(和/英) 日本大学生産工学部
College of Industrial Technology, Nihon University
第 4 著者 氏名(和/英) 山崎 浩二 / Koji YAMAZAKI
第 4 著者 所属(和/英) 明治大学情報コミュニケーション学部
School of Information and Communication, Meiji University
発表年月日 2009-05-20
資料番号 VLD2009-3
巻番号(vol) vol.109
号番号(no) 34
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日