講演名 | 2009-01-29 メタスタビリティを利用した真性乱数生成回路のFPGAによる実装(アプリケーション1,FPGA応用及び一般) 畑 尚志, 市川 周一, |
---|---|
PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
抄録(和) | 真性乱数生成回路(TRNG)をデジタル回路で実装する手法として,ラッチのメタスタビリティを利用する回路が提案されている.ラッチ型TRNGは実装が難しいためカスタムLSIで実現されてきたが,本研究ではFPGAで実装する手法を提案する.提案回路は乱数品質を高めるためにハードマクロで実装し,クロックスキュー低減や内部ノードの負荷均衡化に配慮した.さらに乱数品質と生成速度を改善するため,複数ラッチの出力をXORしてエントロピー収穫を行っている.作成したTRNGはXilinx Virtex4 FPGA XC4VFX20に実装し,NISTテストに後処理なしで通過することを確認した.ラッチ128個からなるTRNGで,回路規模290Slice,生成速度8.33Mbpsを実現した. |
抄録(英) | Metastability of RS latch is utilizable as an entropy source for true random number generators (TRNG). This kind of TRNG is comprised of logic gates, which can be integrated into a logic LSI. Though latch-based TRNG has been mostly implemented with full-custom LSI technology, this study presents an implementation with common FPGA technology. The RS latch in our TRNG is implemented as a hard-macro to guarantee the quality of randomness, minimizing the clock skew and load imbalance of internal nodes. The quality and throughput are further improved by XOR'ing the output of 32-128 latches. The derived design was implemented with Xilinx Virtex4 FPGA (XC4VFX20), and passed NIST test without post-processing. A TRNG of 128 latches occupies 290 slices, while achieving 8.33Mbps throughput. |
キーワード(和) | 乱数生成 / 同期式デジタル回路 / FPGA / 準安定状態 |
キーワード(英) | random number generator / synchronous digital circuit / FPGA / metastability |
資料番号 | VLD2008-95,CPSY2008-57,RECONF2008-59 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | VLD |
---|---|
開催期間 | 2009/1/22(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
委員長氏名(英) | |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
---|---|
本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | メタスタビリティを利用した真性乱数生成回路のFPGAによる実装(アプリケーション1,FPGA応用及び一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | FPGA Implementation of Metastability-based True Random Number Generator |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 乱数生成 / random number generator |
キーワード(2)(和/英) | 同期式デジタル回路 / synchronous digital circuit |
キーワード(3)(和/英) | FPGA / FPGA |
キーワード(4)(和/英) | 準安定状態 / metastability |
第 1 著者 氏名(和/英) | 畑 尚志 / Hisashi HATA |
第 1 著者 所属(和/英) | 豊橋技術科学大学・知識情報工学系 Dept. Knowledge-based Information Engineering, Toyohashi University of Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 市川 周一 / Shuichi ICHIKAWA |
第 2 著者 所属(和/英) | 豊橋技術科学大学・知識情報工学系 Dept. Knowledge-based Information Engineering, Toyohashi University of Technology |
発表年月日 | 2009-01-29 |
資料番号 | VLD2008-95,CPSY2008-57,RECONF2008-59 |
巻番号(vol) | vol.108 |
号番号(no) | 412 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |