講演名 2009-02-26
Field Emitter Arrayの高機能化とその応用 : FEAを用いた新規アプリケーションの提案(機能ナノデバイス及び関連技術)
根尾 陽一郎, 武田 匡史, 田上 智也, 堀江 瞬, 青木 徹, 三村 秀典, 吉田 知也, 長尾 昌善, 金丸 正剛,
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抄録(和) 我々は電界放射微小電子源(Field Emission Array: FEA)に従来にない構造の集束電極を付加することで著しい性能向上を実現し、新規デバイスやアプリケーションの提案を行って来た.従来FEAは製造プロセス・構造の律束により,電子放出サイトの直上に減速電界による単孔レンズを設ける事が一般的であった.しかし,集束動作時に放出サイト近傍の電界強度の減少を引き起こす為,電子ビーム量の著しい減少は不可避であった.Field Emission Display(FED)応用を目的とし,電子ビーム量を維持し且つ集束機能を実現可能なvolcano-structured double-gated FEA構造を提案し作製・評価を行い,良好な結果を得ている.またこの構造を用いることで高周波管,高精細X線イメージングセンサやエキシマランプに応用し性能向上が期待出来る.更に電子ビームを高精細に集束させる為,アインツェルレンズ一体型の4段ゲートFEAの試作・評価を行った.この結果,クロスオーバーを実現可能である事を明らかにした.これによりカソード・カラム一体のマイクロサイズ電子線顕微鏡・電子線リソグラフィー実現への可能性を示した.
抄録(英) We have developed field emission array (FEA) with new focusing electrode structure and proposed several devices and applications using FEA. In order to realize a fine defined field emission display (FED), optimized volcano-structured double-gated FEA was fabricated and focusing characteristics was successfully confirmed. By using volcano-structured double-gated FEA, high frequency vacuum tubes, X-ray imaging tube and excimer lamp were newly proposed and estimated. Further more, highly performed focusing characteristics is needed for the applications using crossover electron beam, such as electron beam microscope and electron beam lithography. The Quad-gated FEA, which equipped an einzel lens just in front of extractor electrode, was fabricated and estimated. It was shown by simulations that the emitted electron beam made a crossover. These results promised new devices and application using FEA.
キーワード(和) Field Emission Array / Field Emission Display / アインツェルレンズ / 電子線顕微鏡 / 電子線リソグラフィー
キーワード(英) field emission arrays / field emission display / einzel lens / electron beam scanning microscope / electron beam lithography
資料番号 ED2008-228,SDM2008-220
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2009/2/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) Field Emitter Arrayの高機能化とその応用 : FEAを用いた新規アプリケーションの提案(機能ナノデバイス及び関連技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Feild Emitter Array with focusing function and it's applications : Proposal of new application using FEA
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) Field Emission Array / field emission arrays
キーワード(2)(和/英) Field Emission Display / field emission display
キーワード(3)(和/英) アインツェルレンズ / einzel lens
キーワード(4)(和/英) 電子線顕微鏡 / electron beam scanning microscope
キーワード(5)(和/英) 電子線リソグラフィー / electron beam lithography
第 1 著者 氏名(和/英) 根尾 陽一郎 / Yoichiro Neo
第 1 著者 所属(和/英) 静岡大学電子工学研究所
Research of institute electronics, Shizuoka University
第 2 著者 氏名(和/英) 武田 匡史 / Masafumi Takeda
第 2 著者 所属(和/英) 静岡大学電子工学研究所
Research of institute electronics, Shizuoka University
第 3 著者 氏名(和/英) 田上 智也 / Tomoya Tagami
第 3 著者 所属(和/英) 静岡大学電子工学研究所
Research of institute electronics, Shizuoka University
第 4 著者 氏名(和/英) 堀江 瞬 / Syun Horie
第 4 著者 所属(和/英) 静岡大学電子工学研究所
Research of institute electronics, Shizuoka University
第 5 著者 氏名(和/英) 青木 徹 / Toru Aoki
第 5 著者 所属(和/英) 静岡大学電子工学研究所
Research of institute electronics, Shizuoka University
第 6 著者 氏名(和/英) 三村 秀典 / Hidenori Mimura
第 6 著者 所属(和/英) 静岡大学電子工学研究所
Research of institute electronics, Shizuoka University
第 7 著者 氏名(和/英) 吉田 知也 / Tomoya Yoshida
第 7 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST), Tsukuba central
第 8 著者 氏名(和/英) 長尾 昌善 / Masayoshi Nagao
第 8 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST), Tsukuba central
第 9 著者 氏名(和/英) 金丸 正剛 / Seigo Kanemaru
第 9 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST), Tsukuba central
発表年月日 2009-02-26
資料番号 ED2008-228,SDM2008-220
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 437
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日