講演名 2008-11-27
RF-MBE法を用いたLiAlO_2基板上無極性M面InNの結晶成長および構造評価(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
高木 悠介, 野沢 浩一, 山口 智広, 荒木 努, 名西 [ヤス]之,
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抄録(和) 今回、LiAlO_2(100)基上に無極性M面InNの結晶成長に成功したので報告する。RF-MBE法を用いて、LiAlO_2(100)基板上に直接InNをエピタキシャル成長させた。成長温度およびV/III比を変化させて成長を行ったところ、成長温度450℃かつ僅かにIn-rich条件下においてM面InNの結晶成長に成功した。しかし、成長温度が低くなるにつれてC面InNが混在しやすく、また成長温度450℃においてもN-rich条件ではC面InNの混在が確認された。このように、LiAlO_2(100)基板上にM面InNを作製するために、成長温度450℃かつ僅かにIn-rich条件に制御することが重要であることがわかった。このようにして得られたLiAlO_2(100)基板上M面InNの透過型電子顕微鏡(TEM)による極微構造評価も行ったので報告する。
抄録(英) In this study, we report the growth and characterization of M-plane InN films on LiAlO_2 (100) substrates by radio-frequency plasma assisted molecular beam epitaxy (RF-MBE). InN films were grown directly on the substrate. Pure M-plane InN was successfully grown at 450℃ and under slightly In-rich condition. However, the incorporation of C-plane InN phases were confirmed in M-plane InN films at low temperature or under N-rich condition. Therefore, it is important to control the growth temperature and V/III ratio for the growth of pure M-plane InN. We also characterized the microstructure of the pure M-plane InN on LiAlO_2 (100) by using transmission electron microscopy (TEM).
キーワード(和) InN / 無極性 / 分子線エピタキシー / LiAlO_2 / 透過型電子顕微鏡
キーワード(英) InN / non-polar / MBE / LiAlO_2 / TEM
資料番号 ED2008-157,CPM2008-106,LQE2008-101
発行日

研究会情報
研究会 LQE
開催期間 2008/11/20(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Lasers and Quantum Electronics (LQE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) RF-MBE法を用いたLiAlO_2基板上無極性M面InNの結晶成長および構造評価(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Growth and Characterization of M-plane InN on LiAlO_2 Substrate by RF-MBE
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) InN / InN
キーワード(2)(和/英) 無極性 / non-polar
キーワード(3)(和/英) 分子線エピタキシー / MBE
キーワード(4)(和/英) LiAlO_2 / LiAlO_2
キーワード(5)(和/英) 透過型電子顕微鏡 / TEM
第 1 著者 氏名(和/英) 高木 悠介 / Yusuke TAKAGI
第 1 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部
Dept. of Photonics, Ritsumeikan University
第 2 著者 氏名(和/英) 野沢 浩一 / Hirokazu NOZAWA
第 2 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部
Dept. of Photonics, Ritsumeikan University
第 3 著者 氏名(和/英) 山口 智広 / Tomohiro YAMAGUCHI
第 3 著者 所属(和/英) 立命館大学総合理工学研究機構
Res. Org. of Sci. & Eng., Ritsumeikan University
第 4 著者 氏名(和/英) 荒木 努 / Tsutomu ARAKI
第 4 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部
Dept. of Photonics, Ritsumeikan University
第 5 著者 氏名(和/英) 名西 [ヤス]之 / Yasushi NANISHI
第 5 著者 所属(和/英) 立命館大学理工学部
Dept. of Photonics, Ritsumeikan University
発表年月日 2008-11-27
資料番号 ED2008-157,CPM2008-106,LQE2008-101
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 323
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日