講演名 2009-01-30
43Gbit/sアイ開口モニタLSIを用いた分散量推定と電気分散補償器制御(フォトニックNWシステム・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,光集積回路,光導波路素子,光スイッチング,導波路解析,及び一般)
安部 淳一, 吉田 信秀, 野口 栄実, 金光 俊一, 内田 宏章, 尾崎 学, 天宮 泰,
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抄録(和) 43Gbit/s動作高速アイ開口モニタLSIを用い、簡易な推定アルゴリズムによる偏波分散及び波長分散量の推定を行った。43Gbt/s RZ-DPSK信号に対してDGD(differential group delay)を付与した際の実験結果は、約+/-2psの誤差範囲で高精度なDGD量検出が可能であった。また、その推定結果を用いて、ルックアップテーブル(LUT)方式により電気的分散補償器(EDC, electrical dispersion compensation)を高速かつアダプティブに制御する方式ついて提案及び実験を行い、3dBペナルティにおける偏波分散耐力として、18ps以上の良好な結果を得た。
抄録(英) We proposed and demonstrated simple estimation algorithm to estimate polarization mode dispersion and chromatic dispersion using 43Gbit/s eye-monitoring LSI. The experimental result using 43Gbit/s RZ-DPSK signal shows that the values of applied DGD (differential group delay) to the transmission line is well estimated by our proposed method and is correct within an error of about +/-2ps. We also reported experimental demonstration of adaptive control of electrical dispersion compensator (EDC) using this dispersion estimation technique by look-up table method. The tolerance is extended to over 18ps at 3dB Q penalty criterion.
キーワード(和) パフォーマンスモニタ / 分散補償 / EDC / 波長分散 / 偏波モード分散 / PMD
キーワード(英) Performance Monitor / Dispersion Compensation / EDC / Polarization Mode Dispersion / PMD
資料番号 PN2008-66,OPE2008-169,LQE2008-166
発行日

研究会情報
研究会 OPE
開催期間 2009/1/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Optoelectronics (OPE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 43Gbit/sアイ開口モニタLSIを用いた分散量推定と電気分散補償器制御(フォトニックNWシステム・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,光集積回路,光導波路素子,光スイッチング,導波路解析,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Adaptive Control of EDC Using Dispersion Estimation Technique with 43Gbit/s Eye Monitoring LSI
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) パフォーマンスモニタ / Performance Monitor
キーワード(2)(和/英) 分散補償 / Dispersion Compensation
キーワード(3)(和/英) EDC / EDC
キーワード(4)(和/英) 波長分散 / Polarization Mode Dispersion
キーワード(5)(和/英) 偏波モード分散 / PMD
キーワード(6)(和/英) PMD
第 1 著者 氏名(和/英) 安部 淳一 / Jun'chi ABE
第 1 著者 所属(和/英) NECデバイスプラットフォーム研究所
Device Platforms Research Labs, NEC Corp.
第 2 著者 氏名(和/英) 吉田 信秀 / Nobuhide YOSHIDA
第 2 著者 所属(和/英) NECデバイスプラットフォーム研究所
Device Platforms Research Labs, NEC Corp.
第 3 著者 氏名(和/英) 野口 栄実 / Hidemi NOGUCHI
第 3 著者 所属(和/英) NECデバイスプラットフォーム研究所
Device Platforms Research Labs, NEC Corp.
第 4 著者 氏名(和/英) 金光 俊一 / Shunichi KANEMITSU
第 4 著者 所属(和/英) NECエンジニアリング
NEC Engineering, Ltd.
第 5 著者 氏名(和/英) 内田 宏章 / Hiroaki UCHIDA
第 5 著者 所属(和/英) NECエンジニアリング
NEC Engineering, Ltd.
第 6 著者 氏名(和/英) 尾崎 学 / Manabu OZAKI
第 6 著者 所属(和/英) NECエンジニアリング
NEC Engineering, Ltd.
第 7 著者 氏名(和/英) 天宮 泰 / Yasushi AMAMIYA
第 7 著者 所属(和/英) NECデバイスプラットフォーム研究所
Device Platforms Research Labs, NEC Corp.
発表年月日 2009-01-30
資料番号 PN2008-66,OPE2008-169,LQE2008-166
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 418
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日