講演名 2009-01-21
クーロンブロッケードエレクトロンシャトル素子におけるシャトル電流efの観察(有機材料・一般)
小林 昇洋, 東 康男, 金原 正幸, 寺西 利治, /, / 真島 豊,
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抄録(和) 本研究では、クーロンブロッケードエレクトロンシャトル素子の構築を目的とし、走査型トンネル顕微鏡(STM)プローブ/真空/有機分子保護Au微粒子/カンチレバー構造を用いた素子で、エレクトロンシャトル動作の観察を行った。中間電極であるAu微粒子を、物理吸着手法と化学吸着手法にてカンチレバー上に分散したところ、100Kでカンチレバー振動に起因したシャトル電流efを観察した。シャトル電流efは電子が機械的な振動に伴い1つずつ転送されていることを示唆する。化学吸着されたAu微粒子においては、シャトル電流が安定して観察されるプローブ-Au微粒子間の距離が物理吸着されたAu微粒子の約4倍の0.35nmとなった。化学吸着させたAu微粒子と物理吸着させたAu微粒子のSTM/走査型トンネル分光(STS)測定から、シャトル電流の流れ方が異なる理由について検討した。
抄録(英) Coulomb blockade electron shuttle phenomena through Au nanodot have been observed under a nanomechanical vibration of Au nanodot on cantilever that consists of scanning tunneling microscopy probe/vacuum/Au nanodot/alkanedithiol/cantilever. In the probe tunneling current-distance characteristics under the nanomechanical vibration, a constant probe current of ef has been observed as a plateau region, where f is an eigenfreqency of the cantilever. The quantized tunneling current ef is explained as one by one single-electron transport per cycle of operation in nanomechanical Coulomb blockade electron shuttle. The plateau region of chemisorbed Au nanodot is 0.35nm which is longer than that of physisorbed Au nanodot. We discuss that what difference between chemisorbed Au nanodot and physisorbed Au nanodot effect the results.
キーワード(和) Au微粒子 / クーロンブロッケード / エレクトロンシャトル / 自己組織化単分子膜
キーワード(英) Au nanodot / Coulomb Blockade / Electron Shuttle / Self Assembled Monolayer
資料番号 OME2008-88
発行日

研究会情報
研究会 OME
開催期間 2009/1/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Organic Material Electronics (OME)
本文の言語 JPN
タイトル(和) クーロンブロッケードエレクトロンシャトル素子におけるシャトル電流efの観察(有機材料・一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Observation of Shuttle Current ef in Coulomb Blockade Electron Shuttle Device
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) Au微粒子 / Au nanodot
キーワード(2)(和/英) クーロンブロッケード / Coulomb Blockade
キーワード(3)(和/英) エレクトロンシャトル / Electron Shuttle
キーワード(4)(和/英) 自己組織化単分子膜 / Self Assembled Monolayer
第 1 著者 氏名(和/英) 小林 昇洋 / Norihiro KOBAYASHI
第 1 著者 所属(和/英) 東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 東 康男 / Yasuo AZUMA
第 2 著者 所属(和/英) 東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 金原 正幸 / Masayuki KANEHARA
第 3 著者 所属(和/英) 筑波大院数理物理科学研究科化学専攻
Department of Chemistry Graduate School of Pure and Applied Sciences
第 4 著者 氏名(和/英) 寺西 利治 / Toshiharu TERANISHI
第 4 著者 所属(和/英) 筑波大院数理物理科学研究科化学専攻
Department of Chemistry Graduate School of Pure and Applied Sciences
第 5 著者 氏名(和/英) / / Simon Chorley
第 5 著者 所属(和/英) /
Cavendish Laboratory, University of Cambridge
第 6 著者 氏名(和/英) / 真島 豊 / Jonathan Prance
第 6 著者 所属(和/英) / 東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻:CREST, JST
Cavendish Laboratory, University of Cambridge
発表年月日 2009-01-21
資料番号 OME2008-88
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 387
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日