| 講演名 | 2009-01-21 有機EL素子における透明電極/有機層界面のXPS分析(有機材料・一般) 佐藤 敏一, 藤川 久喜, 山本 一郎, 村崎 孝則, 加藤 祥文, |
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| 抄録(和) | 光の照射による有機EL(Electroluminescence)素子の劣化,および透明電極として用いられるITO(Indium Tin Oxide)電極の成膜温度による有機EL素子の特性の違いを明らかにすることを目的として,ITO上に成膜した薄い有機層のXPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)による分析を行った.光照射を行った試料では,有機層の酸化の進行とITO電極から有機層への正孔注入障壁の増加を示す結果が得られ,劣化の一因がこの界面にあることが示唆された.また,室温成膜したITO上の有機層は,高温(573K)で成膜したITO上の有機層と比較して著しく酸化しており,素子特性の違いを説明しうる結果を得た. |
| 抄録(英) | X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) of thin organic layers deposited on indium tin oxide (ITO) was taken place to investigate the degradation of organic light-emitting devices (OLEDs) induced by photo-irradiation and the difference of the characteristics of the OLEDs by the temperature in the deposition process of ITO electrodes. Since the oxidation of the organic layer and the increase of the hole-injecting barrier at the organic/ITO interface were observed, it is suggested that the cause of the degradation exists at the interface. The organic layer on the ITO deposited at room temperature was highly oxidized compared with that on the ITO deposited at high temperature (573K), and the difference of the characteristics of the OLEDs is able to explain by the results. |
| キーワード(和) | 有機EL素子 / ITO電極 / 界面 / XPS分析 |
| キーワード(英) | Organic Light-Emitting Device / Indium Tin Oxide Electrode / Interface / X-ray Photoelectron Spectroscopy |
| 資料番号 | OME2008-86 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2009/1/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 有機EL素子における透明電極/有機層界面のXPS分析(有機材料・一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | XPS Analysis of the Interface between Transparent Electrodes and Organic Layers in Organic Light-Emitting Devices |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 有機EL素子 / Organic Light-Emitting Device |
| キーワード(2)（和/英） | ITO電極 / Indium Tin Oxide Electrode |
| キーワード(3)（和/英） | 界面 / Interface |
| キーワード(4)（和/英） | XPS分析 / X-ray Photoelectron Spectroscopy |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 佐藤 敏一 / Toshikazu SATOH |
| 第 1 著者 所属（和/英） | (株)豊田中央研究所 Toyota Central R & D Labs., Inc. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤川 久喜 / Hisayoshi FUJIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (株)豊田中央研究所 Toyota Central R & D Labs., Inc. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山本 一郎 / Ichiro YAMAMOTO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (株)豊田自動織機 Toyota Industries Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 村崎 孝則 / Takanori MURASAKI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | (株)豊田自動織機 Toyota Industries Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 加藤 祥文 / Yoshifumi KATO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | (株)豊田自動織機 Toyota Industries Corporation |
| 発表年月日 | 2009-01-21 |
| 資料番号 | OME2008-86 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 387 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |