講演名 | 2009-01-29 薄膜積層構造を有するHTS-SQUIDの作製とYBCO系長尺線材評価への応用(アナログ応用,一般) 安達 成司, 若菜 裕紀, 畑 潔, 押久保 靖夫, 波頭 経裕, 樽谷 良信, 田辺 圭一, |
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抄録(和) | 積層構造を有する高温超伝導(HTS) SQUIDを作製した.ランプエッジ接合を用いることでチップ上の任意の位置に接合を配置することが可能になり,さらに超伝導多層配線構造を利用することでセンサ回路の省スペース化を図ることができた.この技術を用いて1チップ上にグラジオメータアレイを作製し,交流損失低減のために細線化処理を施したYBCO系長尺線材の非破壊検査への適用を検討した.長尺線材の超伝導層及びその上の銀安定化層を念頭に置いて,銅テープ/超伝導薄膜の二層で構成される試験片を作製した.試験片を冷却せずに測定した場合,銅テープに存在する欠陥に対応した信号が選択的に現れた.一方77Kに冷却した場合は,超伝導薄膜からの信号が顕著に現れた.超伝導線材のT_c以上で測定することによって安定化層の欠陥を,またT_c以下で測定することによって超伝導層の欠陥検査が可能であることが実証できた. |
抄録(英) | We successfully fabricated SQUIDs with multilayer structures using high-T_c superconductors (HTS). Use of ramp-edge Josephson junctions enables us to make SQUIDs at desired positions in a chip. Employing multilayer structures, the devices can be arranged in a rather limited area. We fabricated a garadiometer array in a chip and investigated its feasibility for non-destructive evaluation of YBCO coated-conductors striated to achieve low AC-losses. A test piece comprising an upper Cu-tape and a lower YBCO thin film was prepared. When the piece was examined at ambient temperature, SQUID signals from defects in the Cu-tape were detected. On the other hand, signals from defects in YBCO were clearly observed when the piece was cooled at 77K. This indicated that defects in a Ag-stabilizing layer and a superconducting one can be detected separately by controlling the sample temperature. |
キーワード(和) | ランプエッジ / ジョセフソン接合 / SQUID / 積層構造 / YBCO線材 / 非破壊検査 |
キーワード(英) | Ramp-edge / Josephson junction / SQUID / Multilayer / YBCO coated conductor / Non-Destructive Evaluation |
資料番号 | SCE2008-39 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SCE |
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開催期間 | 2009/1/22(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 薄膜積層構造を有するHTS-SQUIDの作製とYBCO系長尺線材評価への応用(アナログ応用,一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Fabrication of HTS-SQUIDs with multilayer structures and application to evaluation of YBCO coated conductors |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | ランプエッジ / Ramp-edge |
キーワード(2)(和/英) | ジョセフソン接合 / Josephson junction |
キーワード(3)(和/英) | SQUID / SQUID |
キーワード(4)(和/英) | 積層構造 / Multilayer |
キーワード(5)(和/英) | YBCO線材 / YBCO coated conductor |
キーワード(6)(和/英) | 非破壊検査 / Non-Destructive Evaluation |
第 1 著者 氏名(和/英) | 安達 成司 / Seiji ADACHI |
第 1 著者 所属(和/英) | (財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所 SRL-ISTEC |
第 2 著者 氏名(和/英) | 若菜 裕紀 / Hironori WAKANA |
第 2 著者 所属(和/英) | (財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所 SRL-ISTEC |
第 3 著者 氏名(和/英) | 畑 潔 / Kiyoshi HATA |
第 3 著者 所属(和/英) | (財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所 SRL-ISTEC |
第 4 著者 氏名(和/英) | 押久保 靖夫 / Yasuo OSHIKUBO |
第 4 著者 所属(和/英) | (財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所 SRL-ISTEC |
第 5 著者 氏名(和/英) | 波頭 経裕 / Tsunehiro HATO |
第 5 著者 所属(和/英) | (財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所 SRL-ISTEC |
第 6 著者 氏名(和/英) | 樽谷 良信 / Yoshinobu TARUTANI |
第 6 著者 所属(和/英) | (財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所 SRL-ISTEC |
第 7 著者 氏名(和/英) | 田辺 圭一 / Keiichi TANABE |
第 7 著者 所属(和/英) | (財)国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所 SRL-ISTEC |
発表年月日 | 2009-01-29 |
資料番号 | SCE2008-39 |
巻番号(vol) | vol.108 |
号番号(no) | 420 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 5 |
発行日 |