| 講演名 | 2008-12-12 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル(安全性及び一般) 周藤 健太, 吉川 祐樹, 市原 英行, 井上 智生, |
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| 抄録(和) | 近年のLSIの微細化,高性能化に伴いLSIの用途は幅広くなっており求められる信頼性も様々である.オーディオ,画像処理システム,ゲーム機などのように,故障が存在しても,わずかな誤りならば,目的とする処理に重大な影響を及ぼさないシステムも存在する.このような故障は許容故障と呼ばれ,許容故障を考慮したテスト生成手法も提案されている.本研究では,故障の許容性を考慮しない既存のATPGを用いて閾値テストパターンを生成する手法を提案する.テスト対象回路を変換することで得られる2つの回路モデル,許容故障判定モデルと閾値テスト生成モデルを提案し,その2つを用いテスト生成を行うことで,文献で提案されている閾値テストパターン生成に特化したテスト生成アルゴリズムを用いることなしに閾値テストパターン生成が可能となる.実験では,提案する回路モデルの有効性を示す. |
| 抄録(英) | Threshold testing, which is an LSI testing method based on the acceptability of faults, is effective in yield enhancement of LSIs and selective hardening for LSI systems. In this study, we propose a test generation model for threshold testing. Using the proposed model, we can efficiently identify acceptable faults and generate test patterns for unacceptable faults with a general test generation algorithm, i.e., without a test generation algorithm specialized for threshold testing. Experimental results show the effectiveness of the the proposed model. |
| キーワード(和) | 許容故障 / テスト生成 / 閾値 / 回路変換 |
| キーワード(英) | acceptable faults / test generation / threshold / circuit transformation |
| 資料番号 | DC2008-60 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2008/12/5(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル(安全性及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Generation Model for Threshold Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 許容故障 / acceptable faults |
| キーワード(2)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(3)（和/英） | 閾値 / threshold |
| キーワード(4)（和/英） | 回路変換 / circuit transformation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 周藤 健太 / Kenta SUTOH |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉川 祐樹 / Yuki YOSHIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 市原 英行 / Hideyuki ICHIHARA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 井上 智生 / Tomoo INOUE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 広島市立大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Hiroshima City University |
| 発表年月日 | 2008-12-12 |
| 資料番号 | DC2008-60 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 352 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |