| 講演名 | 2008-12-12 光結合を用いたフェールセーフ論理ゲート(安全性及び一般) 工藤 大地, 平尾 裕司, 木村 哲也, 蓬原 弘一, |
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| 抄録(和) | 光結合を用いたフェールセーフ論理回路素子を提案する.従来のフェールセーフ論理回路素子は,回路内部が電気的に結合されているため,電源枠外処理を行って入出力端子間の独立性を得ている.本稿で提案する光結合による論理素子は,フォトカプラを利用して,入出力端子間を電気的に絶縁し,それぞれの独立性をさらに向上させるものである. |
| 抄録(英) | Optically coupled fail-safe logic gates are proposed in this paper. Whereas the conventional fail-safe logic gates based on dynamic processing adopt level transformation by boosted voltage to avoid the influence of input malfunction to output, the proposed gates apply photocouplers to enhance the electronic independence of logic gate components. |
| キーワード(和) | 安全デバイス / フェールセーフ / ウインドウコンパレータ / 光結合 / フォトカプラ |
| キーワード(英) | Safety device / Fail-safe / Window Comparator / Optical Coupling / Photocoupler |
| 資料番号 | DC2008-59 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2008/12/5(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光結合を用いたフェールセーフ論理ゲート(安全性及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Optically Coupled Fail-safe Logic Gates |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 安全デバイス / Safety device |
| キーワード(2)（和/英） | フェールセーフ / Fail-safe |
| キーワード(3)（和/英） | ウインドウコンパレータ / Window Comparator |
| キーワード(4)（和/英） | 光結合 / Optical Coupling |
| キーワード(5)（和/英） | フォトカプラ / Photocoupler |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 工藤 大地 / Daichi KUDO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 Nagaoka University of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 平尾 裕司 / Yuji HIRAO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 Nagaoka University of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 木村 哲也 / Tetsuya KIMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 Nagaoka University of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 蓬原 弘一 / Koichi FUTSUHARA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 Nagaoka University of Technology |
| 発表年月日 | 2008-12-12 |
| 資料番号 | DC2008-59 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | 352 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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