講演名 2008-12-05
GAによる雑音除去のための劣化画像のみを用いた最適構造要素の推定(モルフォロジーセッション,システムオンシリコン,RFID技術及び一般)
奥野 裕之, 花田 良子, 棟安 実治, 浅野 晃,
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抄録(和) モルフォロジ演算の一つであるopeningを用いてテクスチャ画像のインパルス性雑音除去を行う際,最適な多値構造要素を推定する必要がある.これまでに,劣化画像のみを用いた最適構造要素の推定法が提案され,その最適化手法にシミュレーテッドアニーリング(SA)が採用されている.従来手法のSAにおいては,形状のサイズを固定した近傍を用い,探索の進行とともに徐々にサイズを減少させていくことで構造を推定しているため,探索空間が限られる問題があった.本研究では,広大な解空間においても大域的な探索が可能な遺伝的アルゴリズム(GA)を採用し,構造要素のサイズも設計変数として最適な構造要素を推定する.数値例からGAが従来手法と比較してより良好な結果が得られることを示す.
抄録(英) To recover texture images from impulse noise by the opening operation which is one of morphological operations, an suitable structure element (SE) has to be estimated. Hitherto, an unsupervised design method for the SEs has been proposed, and it have adopted Simulated Annealing (SA) as an optimization method. In this approach, SEs are designed under a neighborhood structure which keeps the size of shape, and the size is gradually reduced in the search process. Due to this, the search space is restricted. In this paper, Genetic Algorithm (GA) which can search effectively on wide search spaces is applied. Through experiments, it is shown that our new approach outperformes conventional methods.
キーワード(和) テクスチャ画像 / インパルス雑音 / 構造要素 / 遺伝的アルゴリズム / モルフォロジ
キーワード(英) texture images / impulse noise / structuring element / genetic algorithm / morphology
資料番号 SIS2008-65
発行日

研究会情報
研究会 SIS
開催期間 2008/11/27(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Smart Info-Media Systems (SIS)
本文の言語 JPN
タイトル(和) GAによる雑音除去のための劣化画像のみを用いた最適構造要素の推定(モルフォロジーセッション,システムオンシリコン,RFID技術及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) An Unsupervised Optimization of Structuring Elements for Image Denoising Using GA
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) テクスチャ画像 / texture images
キーワード(2)(和/英) インパルス雑音 / impulse noise
キーワード(3)(和/英) 構造要素 / structuring element
キーワード(4)(和/英) 遺伝的アルゴリズム / genetic algorithm
キーワード(5)(和/英) モルフォロジ / morphology
第 1 著者 氏名(和/英) 奥野 裕之 / Hiroyuki OKUNO
第 1 著者 所属(和/英) 関西大学システム理工学部
Faculty of Engineering Science, Kansai University
第 2 著者 氏名(和/英) 花田 良子 / Yoshiko HANADA
第 2 著者 所属(和/英) 関西大学システム理工学部
Faculty of Engineering Science, Kansai University
第 3 著者 氏名(和/英) 棟安 実治 / Mitsuji MUNEYASU
第 3 著者 所属(和/英) 関西大学システム理工学部
Faculty of Engineering Science, Kansai University
第 4 著者 氏名(和/英) 浅野 晃 / Akira ASANO
第 4 著者 所属(和/英) 広島大学大学院工学研究科
Graduate School of Engineering, Hiroshima University
発表年月日 2008-12-05
資料番号 SIS2008-65
巻番号(vol) vol.108
号番号(no) 334
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日