講演名 | 2008-12-19 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その3) 和田 真一, 越田 圭治, 園田 健人, 小林 千晴, 峯岸 寛人, 菊地 光男, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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抄録(和) | 電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.加振機構の外部入力関数として,デルタ関数に加えて単位ステップ関数を導入し,本加振機構の逆問題解析手法により数学的モデル化を実施しPCによるシミュレーションを行なった.このモデルを用いて変位・加速度・力学的エネルギーなどの基本的な力学量に関する考察を行なった.また,この数学的モデルを被加振対象に対しても適用し,基底関数の低次の線形結合によりシミュレーションできる可能性について示唆した. |
抄録(英) | The authors have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering oscillation and studied the influences of a micro-oscillating on the contacts. By means of introducing delta function and unit step one as a external force, we carried out mathematical approach and solution methods for inverse problems of the oscillating mechanism and the simulation of dynamical characteristics of the mechanism with a personal computer (PC). By making use of this model, it was studied to estimate approximately fundamental mechanical quantities, such as displacement, acceleration, and mechanical energy. On the other hand, by the approach to the objects in the study, it was suggested that the movements were simulated with linear combination of a few basal functions |
キーワード(和) | 電気接点 / ハンマリング加振機構 / 数学的モデル / 逆問題 / シミュレーション |
キーワード(英) | electrical contact / hammering oscillating mechanism / mathematical model / inverse problem / simulation |
資料番号 | EMD2008-111 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EMD |
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開催期間 | 2008/12/12(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その3) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism : modeling of the oscillating mechanism (3) |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 電気接点 / electrical contact |
キーワード(2)(和/英) | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
キーワード(3)(和/英) | 数学的モデル / mathematical model |
キーワード(4)(和/英) | 逆問題 / inverse problem |
キーワード(5)(和/英) | シミュレーション / simulation |
第 1 著者 氏名(和/英) | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
第 1 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 2 著者 氏名(和/英) | 越田 圭治 / Keiji KOSHID |
第 2 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 3 著者 氏名(和/英) | 園田 健人 / Taketo SONODA |
第 3 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 4 著者 氏名(和/英) | 小林 千晴 / Yukiharu KOBAYASHI |
第 4 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 5 著者 氏名(和/英) | 峯岸 寛人 / Hiroto MINEGISHI |
第 5 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 6 著者 氏名(和/英) | 菊地 光男 / Mitsuo KIKUCHI |
第 6 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 7 著者 氏名(和/英) | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
第 7 著者 所属(和/英) | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
第 8 著者 氏名(和/英) | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
第 8 著者 所属(和/英) | 慶応義塾大学K2タウンキャンパス K2 Town Campus, Keio University |
発表年月日 | 2008-12-19 |
資料番号 | EMD2008-111 |
巻番号(vol) | vol.108 |
号番号(no) | 368 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |